[发明专利]一种光纤磁场探测器

说明书

本发明提供了一种光纤磁场探测器，贵金属颗粒置于纤芯的端面，磁致伸缩层覆盖贵金属颗粒和纤芯的端面。在待测磁场的作用下，磁致伸缩层伸长，从而改变贵金属颗粒的相对于其他贵金属颗粒或纤芯端面的位置，进而改变纤芯端面的反射特性，通过该反射特性的变化，实现磁场探测。本发明中，纤芯尺寸小，将纤芯端面深入到待测空间内，即可实现狭小空间的磁场测量，因此，本发明具有设备尺寸小的特点。此外，因为纤芯端面的反射与纤芯端面的环境密切相关，所以本发明还具有磁场探测灵敏度高的优点。

技术领域

本发明涉及磁场探测领域，具体涉及一种光纤磁场探测器。

背景技术

传统的磁场探测多是基于霍尔效应、磁阻效应、磁通门效应及隧道效应的。传统磁场探测设备尺寸大，不能够深入到狭小空间进行探测。

发明内容

为解决以上问题，本发明提供了一种光纤磁场探测器，包括：光源、光探测器、纤芯、贵金属颗粒、磁致伸缩层，贵金属颗粒置于纤芯的端面，磁致伸缩层覆盖贵金属颗粒和纤芯的端面，光源为连续谱光源，光源发出的光耦合进入纤芯，纤芯的端面反射的光耦合进入光探测器，通过测量纤芯的端面的反射光谱实现磁场探测。

更进一步地，贵金属颗粒的数目多于1个。

更进一步地，纤芯的端面设有凹坑，贵金属颗粒不设置在凹坑内。

更进一步地，凹坑的宽度和深度分别小于贵金属颗粒的直径和半径。

更进一步地，凹坑的数目多于一个。

更进一步地，纤芯的端面为凹形。

更进一步地，贵金属颗粒的材料为金、银、铂。

更进一步地，贵金属颗粒的形状为球形。

更进一步地，贵金属颗粒的直径大于20纳米、小于100纳米。

更进一步地，磁致伸缩层的材料为镍合金、铁基合金、铁氧体材料。

本发明的有益效果：本发明提供了一种光纤磁场探测器，贵金属颗粒置于纤芯的端面，磁致伸缩层覆盖贵金属颗粒和纤芯的端面。在待测磁场的作用下，磁致伸缩层沿垂直于纤芯方向伸长，从而改变贵金属颗粒的相对于其他贵金属颗粒或纤芯端面的位置，进而改变纤芯端面的反射特性，通过该反射特性的变化，实现磁场探测。本发明中，纤芯尺寸小，将纤芯端面深入到待测空间内，即可实现狭小空间的磁场测量，因此，本发明具有设备尺寸小的特点。此外，因为纤芯端面的反射与纤芯端面的环境密切相关，所以本发明还具有磁场探测灵敏度高的优点。

以下将结合附图对本发明做进一步详细说明。

附图说明

图1是一种光纤磁场探测器的示意图。

图2是又一种光纤磁场探测器的示意图。

图3是再一种光纤磁场探测器的示意图。

图中：1、纤芯；2、贵金属颗粒；3、磁致伸缩层；4、凹坑。

具体实施方式

为进一步阐述本发明达成预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及实施例对本发明的具体实施方式、结构特征及其功效，详细说明如下。

实施例1