[发明专利]闪烁体的性能测试系统及其标定方法在审
申请号: | 202010760174.3 | 申请日: | 2020-07-31 |
公开(公告)号: | CN111965692A | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 侯超;黄晰燕;盛祥东;王亚平;吕洪奎;刘佳;赵静 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 郭栋梁 |
地址: | 100049 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闪烁 性能 测试 系统 及其 标定 方法 | ||
本申请公开了一种闪烁体的性能测试系统及其标定方法,所述系统包括第一探头,第一探头包括第一闪烁体探头和第二闪烁体探头,且第一闪烁体探头放置于第一层,第二闪烁体探头放置于第二层,第一层与第二层相互平行;至少一个测试通道,至少一个测试通道之间相互平行,且均位于第一层和所述第二层之间,每个测试通道用于放置被测试闪烁体,每个测试通道的一端分别设置有一个光探测器件;数据采集模块,第一闪烁体探头、第二闪烁体探头和每个测试通道分别设置一个数据采集模块,用于将信号进行处理并传输至计算机。本公开的测试系统结构简单,无需放射源,安全稳定,实现了多块闪烁体的批量测试,提高了测试效率。
技术领域
本发明一般涉及核探测技术领域,具体涉及一种闪烁体的性能测试系统及其标定方法。
背景技术
目前,核辐射探测器是记录和检测核辐射事件的装置,核辐射探测器已经广泛应用于很多领域,如核物理实验、粒子天体物理、核医学、地质探测和工业检测等等。塑料闪烁体属于有机闪烁体,当带电粒子或γ射线入射到闪烁体内,使得闪烁体内的原子(分子)电离,激发,在退激发过程中发出荧光。闪烁体结合光探测器件(如光电倍增管等),用于探测带电粒子或中性粒子。塑料闪烁体具有容易制备成大的体积,且不潮解、耐辐照、发光衰减时间短、价格低、性能稳定以及受环境影响小等优点。在高能粒子物理领域大量被野外地面宇宙线粒子探测器阵列所采用,闪烁体探测器是最为常用的核辐射探测器之一,闪烁体探测器一般由闪烁体、光探测器件和电子学组件组成。作为闪烁体探测器重要组成部分的闪烁体,其发光光输出等性能和探测器的性能直接相关,在研制和生产闪烁体探测器时,对所用闪烁体的性能进行测量是至关重要的工作,在某些应用中,野外探测器阵列一次使用量较大,而同一型号的闪烁体,不同块闪烁体或者不同批次生产出来的闪烁体,光产额和透明度会有一定差异,具体表现在从闪烁体表面出射光子(光输出)的数量不同。
因此,对于大批量的闪烁的光输出等性能进行测量,选出可以满足使用要求的闪烁体。如何方便、快速、精确的测量大量闪烁体的光输出或者闪烁体阵列中每个闪烁体的光输出成为一个技术难点。
现有技术方案每次只能测试一个闪烁体的性能,如果需测量大量闪烁体,则工作效率很低。
发明内容
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足,期望提供一种闪烁体的性能测试系统及其标定方法,实现闪烁体光输出的批量测试,同时还能够监测透明度。
第一方面,闪烁体的性能测试系统,其特征在于,包括:
第一探头,第一探头包括第一闪烁体探头和第二闪烁体探头,且第一闪烁体探头放置于第一层,第二闪烁体探头放置于第二层,第一层与第二层相互平行;
至少一个测试通道,至少一个测试通道之间相互平行,且均位于第一层和第二层之间,每个测试通道用于放置被测试闪烁体,每个测试通道的一端分别设置有一个光探测器件;
数据采集模块,第一闪烁体探头、第二闪烁体探头和每个测试通道分别设置一个数据采集模块,用于将信号进行处理并传输至计算机。
作为可选的方案,还包括:第二探头,第二探头包括第三闪烁体探头和第四闪烁体探头,第三闪烁体探头和第四闪烁体探头分别连接一个数据采集模块,其中,第三闪烁体探头和第一闪烁体探头位于同一层且分别位于被测试闪烁体的两端,第四闪烁体探头和第二闪烁体探头位于同一层且分别位于被测试闪烁体的两端。
作为可选的方案,还包括暗箱,第一探头、第二探头,至少一个测试通过到和数据采集模块均位于暗箱中。
作为可选的方案,还包括装配支架,装配支架至少包括三层,其中,装配支架的最上层放置第一闪烁体探头和第三闪烁体探头,装配支架的最下层放置第二闪烁体探头和第四闪烁体探头,剩余每层分别放置一个测试通道且装配支架的端部固定光探测器件,第一闪烁体探头、第二闪烁体探头、第三闪烁探头、第四闪烁体探头和测试通道对应的数据采集模块分别放置于装配支架的对应层。
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