[发明专利]一种基于三次元坐标测量的修模快速改图方法在审

专利信息
申请号: 202010762836.0 申请日: 2020-07-31
公开(公告)号: CN112150637A 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 杨盛林;李航宇;李茂君;刘峻成;席刚;郭芝忠;林岗 申请(专利权)人: 宝利根(成都)精密工业有限公司
主分类号: G06T19/20 分类号: G06T19/20;G01B21/00
代理公司: 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 代理人: 李蕊
地址: 611731 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 三次 坐标 测量 快速 改图 方法
【权利要求书】:

1.一种基于三次元坐标测量的修模快速改图方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1,通过三次元坐标测量仪获得注塑成型后产品在三维坐标系中的各测量点的实际数据;

S2,将产品在各测量点的实际数据、理论数据罗列于表格中并计算得到每个测量点需要修改的数据;

S3,在Creo中,在原模具模型上对应地建立与步骤S1中测量产品的三维坐标系原点相同且X轴、Y轴、Z轴方向相同的改图坐标系;

S4,在改图坐标系中创建数据导入基准点,设置导入数据的小数位数,并避免导入数据四舍五入;

S5,以数据导入基准点为基准,以表阵列的方式,将各测量点的理论数据导入到改图坐标系中形成理论测量点;

S6,以任一理论测量点为起点在该点所处的Z平面内绘制不平行于X轴且不平行于Y轴的短斜线,将短斜线投影至需要修改的模具模型面上得到投影短斜线,在投影短斜线上理论测量点所对应的位置创建点特征得到模具基准点;

S7,参考数据导入基准点阵列成理论测量点的方式将短斜线、投影短斜线和模具基准点进行阵列得到理论测量点对应到模具模型上的模具实际测量点;

S8,隐藏理论测量点,提取模具实际测量点的坐标数据并导入到表格中与步骤S2中产品在对应测量点需要修改的数据相加或相减得到修模点位数据;

S9,将修模点位数据导入Creo中修改模具图。

2.根据权利要求1所述的基于三次元坐标测量的修模快速改图方法,其特征在于,在改图坐标系中创建数据导入基准点的方法为:

在步骤S1中各测量点的Z坐标处建立与X-Y坐标平面平行的Z平面,在每个Z平面中的X-Y坐标系的第一象限中创建点特征并将当前点特征的X坐标值和Y坐标值均更改为零得到所述数据导入基准点,对每个数据导入基准点执行步骤S5~步骤S7。

3.根据权利要求1所述的基于三次元坐标测量的修模快速改图方法,其特征在于,所述步骤S5进一步包括:

在Creo中,以步骤S4中的数据导入基准点进行特征阵列操作,并在弹出的对话框中选择表阵列方式,在表阵列方式下的对话框进行编辑,将步骤S2中产品在各测量点的理论数据复制粘贴到表编辑器窗口中并保存,关闭表编辑器窗口,在随后显示的阵列结果预览状态对话框中点击确认。

4.根据权利要求1所述的基于三次元坐标测量的修模快速改图方法,其特征在于,步骤S6中的所述短斜线的长度为0.5~1mm。

5.根据权利要求1所述的基于三次元坐标测量的修模快速改图方法,其特征在于,步骤S6中的所述理论测量点不包含所述数据导入基准点。

6.根据权利要求1所述的基于三次元坐标测量的修模快速改图方法,其特征在于,步骤S6中在投影所述短斜线时,需要同时选择所有的待投影的模型表面。

7.根据权利要求1所述的基于三次元坐标测量的修模快速改图方法,其特征在于,所述步骤S8中提取模具实际测量点的方法为:

将仅显示有根据理论测量点找出的模具实际测量点的模具模型以基准曲线和点的类型导出为IGES文件;使用Creo再次打开导出的IGES文件进行重新配置并存为pts文件,再使用记事本打开pts文件以显示模具实际测量点的三维坐标数据,然后将模具实际测量点的三维坐标数据复制粘贴到表格中。

8.根据权利要求1所述的基于三次元坐标测量的修模快速改图方法,其特征在于,将修模点位数据导入Creo中修改模具图的具体方法为:

将修模点位数据通过Creo建立曲线命令或偏移坐标系命令导入点再构建曲线得到模具修改补偿的点和曲线,通过曲线使用边界混合命令生成三维曲面,再使用三维曲面与模具模型求和、求差或替换得到修改后的模具模型。

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