[发明专利]一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置与测试方法

权利要求书

1.一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置，包括漫反射光谱采集系统，其特征在于，还包括反射光谱测试附件、偏振角调制附件和偏振度调制附件；所述反射光谱测试附件包括样品台底座、样品台旋转底座、入射光方位角调节支杆、反射光方位角调节支杆、入射光天顶角调节旋钮及反射光天顶角调节旋钮；入射光方位角调节支杆固定在样品台底座上，反射光方位角调节支杆固定在样品台旋转底座上，样品台旋转底座可在样品台底座上360°旋转并读取旋转角度，通过旋转样品台旋转底座可实现入射光和反射探测光方位角调节；所述偏振角调制附件，包括光纤准直器、旋转安装座和偏振片；偏振片安装在旋转安装座中，两个光纤准直器安装在旋转安装座的两侧；所述偏振度调制附件，包括光纤准直器、旋转安装座、偏振片、1/4波片和光学镜筒；1/4波片安装在旋转安装座中，偏振片安装在光学镜筒中，两个光纤准直器分别安装在旋转安装座和光学镜筒两侧。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述反射光谱测试附件中的入射光方位角调节支杆和反射光方位角调节支杆通过各自拐角连接处进行高低和长短调节，实现入射光天顶角调节旋钮、反射光天顶角调节旋钮到样品台旋转底座的距离和位置调节。

3.一种偏振角调制光谱测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、搭建偏振角调制光谱测试系统，由光源、偏振角调制附件、反射光谱测试附件、光谱仪、PC机和光纤组成；所述反射光谱测试附件包括样品台底座、样品台旋转底座、入射光方位角调节支杆、反射光方位角调节支杆、入射光天顶角调节旋钮及反射光天顶角调节旋钮；入射光方位角调节支杆固定在样品台底座上，反射光方位角调节支杆固定在样品台旋转底座上，样品台旋转底座可在样品台底座上360°旋转并读取旋转角度，通过旋转样品台旋转底座可实现入射光和反射探测光方位角调节；所述偏振角调制附件，包括光纤准直器、旋转安装座和偏振片；偏振片安装在旋转安装座中，两个光纤准直器安装在旋转安装座的两侧；所述偏振度调制附件，包括光纤准直器、旋转安装座、偏振片、1/4波片和光学镜筒；1/4波片安装在旋转安装座中，偏振片安装在光学镜筒中，两个光纤准直器分别安装在旋转安装座和光学镜筒两侧；

步骤2、调节偏振角调制附件中的偏振片的偏振方向，确定光源偏振方向和探测偏振方向；

步骤3、反射光谱测试附件的样品台旋转底座和天顶角调节旋钮，完成入射光和反射光方位角、入射光和反射光天顶角的调节；

步骤4、在扣除机器噪声后，利用标准漫反射白板完成该偏振调制模式下物体偏振反射光谱的采集。