[发明专利]参数估计方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种参数估计方法，其特征在于，所述方法包括：

获取利用天线阵列接收到的信号的协方差矩阵；所述信号中包括：L个期望信号和噪声信号；所述天线阵列中包括的天线阵元数为M；M大于L，且L和M均为大于等于1的正整数；其中，所述天线阵列的天线阵元之间存在与各个期望信号到达到所述天线阵列上的入射角度相关的互耦；

对所述协方差矩阵进行特征分解，得到噪声子空间；

根据所述期望信号的导向矢量和所述噪声子空间的正交特性，以及所述噪声子空间，得到过渡矩阵其中，U_n表示所述噪声子空间，维度为M×(M-L)；P为小于M的正整数；a(θ_l)表示第l个期望信号的导向矢量，维度为M×1，θ_l表示所述第l个期望信号到达到所述天线阵列上的入射角度，l＝1,2,...,L；p＝1,2,...P；v(θ_l)＝[c^T(θ_l),0_1×M-P]^T；C(θ_l)表示与所述第l个期望信号对应的互耦系数矩阵，维度为M×M，C(θ_l)＝toplitze[v(θ_l)]，c(θ_l)＝[1,c₁(θ_l),…,c_P-1(θ_l)]^T表示所述第l个期望信号对应的互耦系数向量；T^H(θ_l)表示矩阵T(θ_l)的共轭转置；

基于所述过渡矩阵，得到各个期望信号的入射角度和对应的互耦系数向量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述过渡矩阵，得到各个期望信号的入射角度和对应的互耦系数向量，包括：

基于所述过渡矩阵，得到空间谱函数其中，det[Q(θ_l)]表征Q(θ_l)的行列式；

对所述空间谱函数进行谱峰搜索，得到L个谱峰对应的期望信号的入射角度；

针对每个期望信号，基于该期望信号的入射角度对所述过渡矩阵进行特征分解，得到最小特征值所对应的特征向量；

利用所述对应的特征向量中的第一个元素，对所述对应的特征向量进行归一化，得到该期望信号对应的互耦系数向量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述期望信号的导向矢量和噪声子空间的正交特性，得到过渡矩阵，包括：

根据所述期望信号的导向矢量和噪声子空间的正交特性，以及所述噪声子空间，得到第一表达式

对所述第一表达式进行处理，得到所述过渡矩阵。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取接收到的信号的协方差矩阵，包括：

在预设时长内接收到K个信号之后，将所述K个信号输入到预设表达式，得到所述协方差矩阵；其中，所述预设表达式为为所述K信号中的第k个信号；其中，所述K信号中的每个信号均包括：所述L个期望信号和所述噪声信号；K为采样快拍数，K大于等于2。