[发明专利]验证用于互连测量的解嵌器的技术在审
申请号: | 202010770645.9 | 申请日: | 2017-03-16 |
公开(公告)号: | CN112147419A | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | X·叶;K·肖 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G01R27/28 | 分类号: | G01R27/28;G01R31/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘瑜 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 验证 用于 互连 测量 解嵌器 技术 | ||
1.一种用于验证解嵌器的方法,所述方法包括:
在第一测试套件上执行第一组测量,所述第一测试套件包括第一固定装置、第二固定装置以及连接至所述第一固定装置和所述第二固定装置的被测第一设备;
在第二测试套件上执行第二组测量,所述第二测试套件包括第三固定装置、第四固定装置和连接到所述第三固定装置和所述第四固定装置的被测第二设备,其中,所述被测第二设备是串行的所述被测第一设备的两个副本;
由解嵌器并且基于所述第一组测量来确定第一组参数,所述第一组参数表示通过所述被测第一设备对信号的影响;
由所述解嵌器并且基于所述第二组测量来确定第二组参数,所述第二组参数表示通过所述被测第二设备对信号的影响;
基于所述第一组参数来确定第三组参数,所述第三组参数表示通过级联在一起的两个所述被测第一设备对信号的影响;
对所述第三组参数和所述第二组参数进行比较;以及
基于对所述第三组参数和所述第二组参数的比较来确定所述解嵌器的误差参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,对所述第三组参数和所述第二组参数进行比较包括确定所述第一组参数和所述第二组参数之间的差,并且其中,确定所述解嵌器的所述误差参数包括将所述差与阈值进行比较。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在多个频率中的每个频率处,在所述第一测试套件上执行一个或多个测量,
其中,在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述多个频率中的每个频率处,在所述第二测试套件上执行一个或多个测量。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,确定所述第一组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第一测试套件上的一个或多个测量来确定所述第一组参数,
其中,确定所述第二组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第二测试套件上的一个或多个测量来确定所述第二组参数,
其中,确定所述解嵌器的误差参数包括确定在所述多个频率中的每个频率处所述解嵌器的一个或多个误差参数。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在所述第一测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量,
其中,在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述第二测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量。
6.一种用于验证解嵌器的验证计算设备,所述验证计算设备包括:
一个或多个处理器;
一个或多个存储设备,其中存储有多个指令,所述多个指令当由所述一个或多个处理器执行时,使所述验证计算设备用于:
应用解嵌器以基于第一测试套件的第一组测量,来确定第一组参数,所述第一测试套件包括(i)第一固定装置,(ii)第二固定装置和(iii)被测第一设备,所述第一组参数表示通过所述被测第一设备对信号的影响;
应用所述解嵌器以基于第二测试套件的第二组测量,来确定第二组参数,所述第二测试套件包括(i)第三固定装置,(ii)第四固定装置和(iii)被测第二设备,所述第二组参数表示通过所述被测第二设备对信号的影响;以及
基于所述第一组参数,来确定第三组参数,所述第三组参数表示通过级联在一起的两个所述被测第一设备对信号的影响。
7.根据权利要求6所述的验证计算设备,其中,所述多个指令还使所述一个或多个处理器用于:
对所述第三组参数与所述第二组参数进行比较;以及
基于对所述第三组参数和所述第二组参数的比较,来确定解嵌器的误差参数。
8.根据权利要求7所述的验证计算设备,其中,对所述第三组参数与所述第二组参数进行比较包括确定所述第一组参数与所述第二组参数之间的差,并且其中,确定所述解嵌器的误差参数包括对所述差与阈值进行比较。
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