[发明专利]一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置及方法

说明书

本发明属于光学检测与装校技术领域，具体涉及一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置及方法；包括用于固定空间碎片测距成像复合光学系统的五维精密装校平台和多焦面平行光管，五维精密装校平台和多焦面平行光管分别安装在处于水平状态的光学平台两端；能够对空间碎片测距成像复合光学系统中各组件进行精密装校与全面指标专项检测，无需令被检设备转换场地、反复拆装，检测指标全面，避免运输与反复拆装的风险，提高了装校精度以及效率，而且利用多焦面平行光管的特点，解决了以往需多台检测设备联合检测的工作流程，使用同一装置进行多项指标的检测与高精度装校，大大提高了工作效率，节约了成本激光。

技术领域

本发明属于光学检测与装校技术领域，具体涉及一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置及方法。

背景技术

随着对空间碎片探测要求的不断提高，空间碎片探测系统逐渐向一体化和多功能方向化发展。其中针对空间碎片测距成像复合光学系统中复杂光路的高精度、高效率装校以及快速检测方法则尤为重要。通常对于多功能的用于空间碎片测距成像复合系统需要使用多种检测设备进行联合检测与标定，其中反复拆装、在多个实验室间进行转运在所难免，而在反复拆装与运输过程中被检系统由于受到不良振动和冲击，光学元件可能发生偏移，降低系统的精度指标甚至造成损坏无法使用。目前还没有能够满足空间碎片测距成像复合光学系统检测与装校需求的专用装置。

发明内容

为了克服上述问题，本发明提出一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置及方法，是一种用于空间碎片测距成像复合光学系统的精密装校与快速检测装置，能够对空间碎片测距成像复合光学系统中各组件进行精密装校与全面指标专项检测，无需令被检设备转换场地、反复拆装，检测指标全面，避免运输与反复拆装的风险，提高了装校精度以及效率，而且利用多焦面平行光管的特点，解决了以往需多台检测设备联合检测的工作流程，使用同一装置进行多项指标的检测与高精度装校，大大提高了工作效率，节约了装校与检测的成本。

一种空间碎片测距成像复合光学系统的检测装置，包括用于固定空间碎片测距成像复合光学系统1的五维精密装校平台2和多焦面平行光管3，五维精密装校平台2和多焦面平行光管3分别安装在处于水平状态的光学平台两端；

多焦面平行光管3包括遮光罩33、主镜31、次镜32、动/静态碎片模拟组件4、分光镜一41、平行光管束散角测试组件5、分光镜二51、基准光源组件6、分光镜三61、光功率计7、分光镜四71和平行光管焦面组件8，其中主镜31、次镜32、动/静态碎片模拟组件4、分光镜一41、平行光管束散角测试组件5、分光镜二51、基准光源组件6、分光镜三61、光功率计7、分光镜四71和平行光管焦面组件8均位于遮光罩33内部，按照光束传输方向布置如下：

平行光管焦面组件8发射的平行光入射到分光镜四71，经分光镜四71透射后，透射光入射到分光镜三61，经分光镜三61的透射后，透射光入射到分光镜二51，经分光镜二51的透射后，透射光入射到分光镜一41，经分光镜一41的透射后，透射光入射到次镜32，经次镜32的反射后，反射光入射到主镜31，经主镜31的反射后，反射光从遮光罩33的开口入射进入空间碎片测距成像复合光学系统1内；

空间碎片测距成像复合光学系统1发射的平行光束入射到遮光罩33内的主镜31，经主镜31的反射后，反射光入射到次镜32，经次镜32的反射后，反射光入射到分光镜一41，经分光镜一41的透射后，透射光入射到光镜二51，经分光镜二51的反射后，反射光入射到平行光管束散角测试组件5，光束经分光镜二51的透射后，透射光入射到分光镜三61，经分光镜三61的透射后，透射光入射到分光镜四71，经分光镜四71的反射后，反射光入射到光功率计7；

动/静态碎片模拟组件4发出的光束入射到分光镜一41，经分光镜一41的反射后，反射光入射到次镜32，经次镜32的反射后，反射光入射到主镜31，经主镜31的反射后，反射光从遮光罩33的开口入射进入空间碎片测距与成像复合光学系统1内；