[发明专利]显示面板玻璃内外异物检测方法和装置

说明书

本发明公开了一种显示面板玻璃内外异物检测方法和装置，所述方法通过用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板；从第一图像和第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；根据异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物；能够正确区分微显示面板表面玻璃内外异物，提高了微显示面板表层玻璃内外异物的检测速度和检测准确率，从而提高了有显示缺陷的显示面板的检出率，降低了有显示缺陷的显示面板的过检率，有效提升了产品产能，提升客户良品率。

技术领域

本发明涉及显示器检测领域，尤其涉及一种显示面板玻璃内外异物检测方法和装置。

背景技术

随着人们对大屏显示效果的不断追求，常规显示技术已不能满足未来发展的需要，而更高技术层次的微发光二极管（Micro Light Emitting Diode，Micro LED）凭借着出色的亮度、发光效率高、低能耗、反应速度高、对比度高、自发光、使用寿命长、超高解析度与色彩饱和度等各方面指标均高于常规发光二极管LED、液晶显示器（Liquid CrystalDisplay，LCD），以及相比有机电激光显示（Organic Light-Emitting Diode，OLED）的优势，被称为是颠覆产业的新一代显示技术，近年备受业内关注。

MicroLED行业下游面板厂商，需要对其生产出的MicroLED 显示器进行出货前的画质检测，检测结果直接影响出货产品等级以及质量，画质检测内容包含亮点、暗点、亮线、暗线、斑Mura（指显示器亮度不均匀，造成各种痕迹现象）以及玻璃内异物检测；现有的检测方式主要是通过自动光学检测（Automated Optical Inspection，AOI）技术进行缺陷检测，内层异物会造成面板显示不良，属于显示缺陷；外层异物属于表面灰尘，可以通过清洗擦拭，不属于显示缺陷，但是现有检测方式无法准确区分MicroLED显示面板玻璃的异物是内层异物还是外层异物，显示屏检测率较低。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种显示面板玻璃内外异物检测方法和装置，旨在解决现有技术中无法准确区分MicroLED显示面板玻璃的异物是内层异物还是外层异物，显示屏检测率较低的技术问题。

第一方面，本发明提供一种显示面板玻璃内外异物检测方法，所述显示面板玻璃内外异物检测方法包括以下步骤：

用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板；

从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；

根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

可选地，所述用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，包括：

根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像；

根据所述显示面板玻璃的玻璃厚度移动所述光学机构至目标位置，并在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像。

可选地，所述根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像，包括：

断开显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光；

根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构的自动对焦环对所述显示面板玻璃的下表面的晶粒表面进行对焦，并对所述下表面的晶粒表面进行图像采集，获得第一图像。