[发明专利]一种用于定量荧光测量的校准方法及校准配件

权利要求书

1.一种用于定量荧光测量的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

记录荧光激发光源的光源强度信号I1，或将光源强度调节到固定光强I，即I1=I，得到光源修正参数K1；

记录荧光标记试剂的荧光信号Y1及荧光标记试剂温度T1；

记录待测物荧光背景信号Y2和荧光标记试剂反应后的荧光信号Y3及待测物测量区域的温度T2；

然后将荧光标记试剂的荧光信号Y1及荧光标记试剂温度T1与校准模型进行匹配，得到校准参数K2；

根据待测物温度T2和校准模型得到荧光标记试剂标准荧光信号Y，然后结合待测物荧光背景信号Y2和荧光信号Y3，对荧光信号Y3进行荧光背景修正，计算得到待测物中待测成分的浓度；

所述光源修正参数K1通过光源强度信号I1与校准模型建立时光源强度信号即固定光强I进行比较获得，即K1=I/I1；当光源强度调节到固定光强I时，I1=I，光源修正参数 K1=I/I1=1；

所述校准模型的建立是通过测量不同温度条件下荧光标记试剂的荧光强度获得荧光标记试剂温度特性曲线得到的；

所述校准参数K2通过以下步骤计算得到：根据测量得到的对荧光标记试剂的荧光信号Y1及温度T1获得荧光标记试剂校准参数K2= Y1*K1-Y(T1)，其中Y(T1)为根据校准模型得到的温度T1条件下的荧光信号强度，进而得到待测物温度T2条件下荧光标记试剂标准荧光信号Y=(Y(T2)+K2)/K1= (Y(T2) -Y(T1))/K1+ Y1，其中Y(T2)为根据校准模型得到的温度T2条件下的荧光信号强度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述荧光信号Y1、Y2和Y3为强度值信号或是波长相关的宽带光谱信号。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述荧光背景修正的方法为当荧光信号Y1、荧光背景信号Y2和荧光信号Y3为含有波长信息的宽带光谱信号时，对荧光标记试剂标准荧光信号Y、荧光背景信号Y2与荧光信号Y3进行拟合，实现荧光信号Y3的背景修正，拟合方法可以是多元线性回归方法；当荧光信号Y1、荧光背景信号Y2和荧光信号Y3为强度值信号时，采用直接扣除荧光背景信号Y2的方法，即Y3-Y2对荧光信号进行背景修正。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：当荧光信号Y1、荧光背景信号Y2和荧光信号Y3为含有波长信息的宽带光谱信号时，利用荧光标记试剂标准荧光信号Y与背景修正后的荧光信号Y3进行拟合，得到待测物中待测成分的浓度；当荧光信号Y1、荧光背景信号Y2和荧光信号Y3为强度值信号时，待测物中待测成分的浓度C=(Y3-Y2)/(Y(T2)+K2)。