[发明专利]一种宽频带高精度测向天线阵列全方位遍历方法

权利要求书

1.一种宽频带高精度测向天线阵列全方位遍历方法，其特征在于，具体步骤如下；

(1)布置天线阵列，包括均匀布置的若干个面线阵，所有面线阵总计覆盖360°的范围；

(2)在无噪声环境下，利用步骤(1)布置的天线阵列侦测不同入射频率、入射方向下的信号，得到信号对应的基线相位差。将信号的入射频率、入射方向与基线相位差结合建立样本表；

(3)在现场标定时对步骤(2)建立的样本表通过使用探测频段内的频率，随机选取信号的入射方向进行校正补偿，以建立最终的样本表。

(4)根据需要探测的信号频段的中心频率，在本地生成一个参考信号，根据天线阵列中的单个面线阵接收到的信号与本地参考信号比较相位差，根据步骤(3)建立的样本表，将实际测得的相位差与样本表中的各个样本依次进行匹配，匹配距离最近的样本方向即为该面线阵覆盖范围内的来波方向。

(5)根据步骤(4)的过程，依次遍历天线阵列中的所有面线阵，实现360°全方位的侦测测向。

2.如权利要求1所述的宽频带高精度测向天线阵列全方位遍历方法，其特征在于，通过电子开关切换各个面线阵，每次仅有单个面线阵工作，屏蔽其他面线阵的信号，以降低干扰。

3.如权利要求1所述的宽频带高精度测向天线阵列全方位遍历方法，其特征在于，通过在现场可编程逻辑门阵列(FPGA)上部署天线阵列，可加快天线阵列的遍历速度，在实际应用时可实现多面线阵对多个频段的同时测向、同时查表。

4.如权利要求1所述的宽频带高精度测向天线阵列全方位遍历方法，其特征在于，由于各个天线到处理单元的传输线相位不同，因此，需在本地收发产生一参考信号，对于每个天线接收到的信号，需与对应的参考信号比较来得到相位差，以排除各天线到处理单元传输线的相位不同的影响。