[发明专利]一种HCI的存储性能优化方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010791434.3 申请日: 2020-08-07
公开(公告)号: CN112000430A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 马怀旭;张东 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F9/455 分类号: G06F9/455;H04L12/24
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 薛娇
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 hci 存储 性能 优化 方法 装置 设备 介质
【权利要求书】:

1.一种HCI的存储性能优化方法,其特征在于,应用于处理器,包括:

将预设待测配置组合应用于服务器集群以构建超融合系统HCI;

利用预设测试工具对所述HCI进行数据读写流程的预热;

控制经过预热的所述HCI针对预设测试用例进行数据处理,并获取预设类型的存储性能指标;

控制提示器提示获取到的所述存储性能指标以及对应的所述预设待测配置组合,以便对所述预设待测配置组合进行评估。

2.根据权利要求1所述的HCI的存储性能优化方法,其特征在于,所述控制经过预热的所述HCI基于预设测试用例进行数据处理,并获取预设类型的存储性能指标之后,所述控制提示器提示获取到的所述存储性能指标之前,该HCI的存储性能优化方法还包括:

对所述HCI进行环境清理;

判断是否存在未经测试的预设配置组合;

若存在,则将未经测试的所述预设配置组合作为预设待测配置组合并执行所述将预设待测配置组合应用于服务器集群以构建超融合系统HCI的步骤;

若不存在,则执行所述控制提示器提示获取到的所述存储性能指标以及对应的所述预设待测配置组合的步骤。

3.根据权利要求2所述的HCI的存储性能优化方法,其特征在于,所述控制经过预热的所述HCI针对预设测试用例进行数据处理,并获取预设类型的存储性能指标具体为:

控制经过预热的所述HCI针对多个预设测试用例依次进行数据处理,并在针对每个所述预设测试用例进行数据处理的过程中获取预设类型的存储性能指标;

则所述控制提示器提示获取到的所述存储性能指标以及对应的所述预设待测配置组合具体为:

控制提示器提示获取到的每个所述预设待测配置组合下的所述预设测试用例及其对应的所述存储性能指标。

4.根据权利要求3所述的HCI的存储性能优化方法,其特征在于,所述控制提示器提示获取到的每个所述预设待测配置组合下的所述预设测试用例及其对应的所述存储性能指标具体为:

控制显示器以预设类型图表的形式显示获取到的每个所述预设待测配置组合下的所述预设测试用例及其对应的所述存储性能指标。

5.根据权利要求3所述的HCI的存储性能优化方法,其特征在于,所述预设测试用例包括HCI应用模式以及读写方式;

其中,所述HCI应用模式为多主机模式或者单主机模式。

6.根据权利要求1所述的HCI的存储性能优化方法,其特征在于,所述预设待测配置组合包括主机部署方式、主机网络配置、主机磁盘配置、主机CPU配置、主机内存配置、SeverSAN target的策略、Sever SAN target下lun个数、测试选型、测试机基本配置、虚拟磁盘配置以及IO调度策略。

7.根据权利要求1至6任一项所述的HCI的存储性能优化方法,其特征在于,所述预设类型的存储性能指标包括每秒进行读写操作的次数IOPS、读写延迟latency以及CPU使用信息中的至少一者。

8.一种HCI的存储性能优化装置,其特征在于,应用于处理器,包括:

构建模块,用于将预设待测配置组合应用于服务器集群以构建超融合系统HCI;

数据预热模块,用于利用预设测试工具对所述HCI进行数据读写流程的预热;

执行模块,用于控制经过预热的所述HCI针对预设测试用例进行数据处理,并获取预设类型的存储性能指标;

控制模块,用于控制提示器提示获取到的所述存储性能指标以及对应的所述预设待测配置组合,以便用户对所述预设待测配置组合进行评估。

9.一种HCI的存储性能优化设备,其特征在于,包括:

存储器,用于存储计算机程序;

处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述HCI的存储性能优化方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述HCI的存储性能优化方法的步骤。

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