[发明专利]一种高效率精准对位的半导体激光器测试夹具及测试方法

权利要求书

1.一种高效率精准对位的半导体激光器测试方法，其特征在于：基于高效率精准对位的半导体激光器测试夹具，该高效率精准对位的半导体激光器测试夹具包括底座(1)、显示板(2)、相机转轴(3)、连接杆转轴(4)、相机连接杆(5)、工业相机(6)、摄像头(7)、粗转轴(8)、大刻度(9)、细转轴(10)、小刻度(11)、旋转把(12)、防滑套(13)、电动推杆一(14)、内夹具(15)、外夹具(16)、海绵垫(17)、电动推杆二(18)、激光输出口(19)、照明灯连接杆(20)、照明灯转轴(21)、照明灯(22)和检测系统；所述检测系统包括：工业相机拍摄模块(23)、后台电脑显示模块(24)、处理器检查模块(25)、人工检查模块(26)、检查结果合并模块(27)、检查结果相同模块(28)、检查结果不同模块(29)、检查完成模块(30)，所述底座(1)上端固定连接有显示板(2)，所述显示板(2)上端固定连接有所述粗转轴(8)，所述粗转轴(8)上端转动连接有细转轴(10)，所述粗转轴(8)上端表面设置有大刻度(9)，所述细转轴(10)上端表面设置有小刻度(11)，所述细转轴(10)上端固定连接有旋转把(12)，所述旋转把(12)表面设置有防滑套(13)，所述细转轴(10)侧面固定连接有电动推杆一(14)，且所述电动推杆一(14)设置有12个，所述电动推杆一(14)顶端固定连接有内夹具(15)，所述内夹具(15)和外夹具(16)通过电动推杆二(18)固定连接，且所述电动推杆二(18)设置在所述内夹具(15)和所述外夹具(16)之间，所述内夹具(15)和所述外夹具(16)内部均设置有海绵垫(17)，所述内夹具(15)和所述外夹具(16)下端均开设有激光输出口(19)；所述底座(1)上端转动连接有相机转轴(3)和照明灯连接杆(20)，所述相机转轴(3)上端通过连接杆转轴(4)转动连接有相机连接杆(5)，所述相机连接杆(5)远离所述连接杆转轴(4)的一端固定连接有工业相机(6)，所述工业相机(6)一侧表面设置有摄像头(7)，所述照明灯连接杆(20)上端通过照明灯转轴(21)转动连接有照明灯(22)；所述检测系统的所述工业相机拍摄模块(23)的输出端和后台电脑显示模块(24)的输入端电性连接，所述后台电脑显示模块(24)的输出端分别和处理器检查模块(25)、人工检查模块(26)的输入端电性连接，所述处理器检查模块(25)和所述人工检查模块(26)的输出端均和检查结果合并模块(27)的输入端电性连接，所述检查结果合并模块(27)的输出端分别和检查结果相同模块(28)、检查结果不同模块(29)的输入端电性连接，所述检查结果相同模块(28)的输出端和检查完成模块(30)的输入端电性连接，所述检查结果不同模块(29)的输出端和所述人工检查模块(26)的输入端电性连接；

所述测试方法，具体包括如下步骤：

步骤1：将待测试的半导体激光器发射口朝下放置在内夹具(15)和外夹具(16)之间，控制电动推杆二(18)将内夹具(15)和外夹具(16)缩紧，使待测试的半导体激光器固定在内外夹具内部；

步骤2：打开待测试的半导体激光器，通过激光输出口(19)将激光输出在底座(1)上设置的显示板(2)上，打开工业相机(6)，带摄像头(7)的工业相机(6)对显示板(2)上的待测试的半导体激光器激光输出的光斑图案进行拍摄，并通过所述工业相机拍摄模块(23)发送至后台电脑显示模块(24)；

步骤3：在测试过程中，通过旋转旋转把(12)，将小刻度(11)和大刻度(9)对准，打开设置在底座(1)上端的照明灯(22)，照明灯(22)通过照明灯连接杆(20)和照明灯转轴(21)进行旋转角度的调节；工业相机(6)通过相机转轴(3)和连接杆转轴(4)进行角度的旋转，寻找显示板(2)上的最佳角度进行拍摄，通过伸长或缩短电动推杆一(14)调整待测试的半导体激光器发射激光的角度；

步骤4：当工业相机拍摄的画面传输至后台电脑显示模块(24)时，测试人员通过人工检查模块(26)对拍摄的画面进行检测，同时处理器检查模块(25)也对拍摄的画面进行检测，当人工检测和处理器检测结束后，由检查结果合并模块(27)将人工和处理器的检测结果进行合并，当两种检查结果相同时，检查结果相同模块(28)将检查结果发送至检查完成模块(30)，检查工作完成；当两种检查结果不同时，检查结果不同模块(29)将拍摄的画面转至人工检查模块(26)再次进行人工检查，随后完成检查。

2.根据权利要求1所述的一种高效率精准对位的半导体激光器测试方法，其特征在于：所述相机转轴(3)设置为四个，所述照明灯连接杆(20)设置为两个。