[发明专利]数据处理方法及装置、电子设备、存储介质

说明书

本申请提供一种数据处理方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：获取触控面板上的触控点坐标；判断所述触控点坐标是否处于预设的触控范围内；如果所述触控点坐标不处于预设的触控范围内，连接所述触控面板的中心点坐标与所述触控点坐标，得到连接线；将所述触控点坐标更新为所述连接线与所述触控范围的轮廓线的交点坐标；实现了对于边缘触控位置的坐标校正，从而达到对于边缘触控位置的触控轨迹的平滑效果。

技术领域

本申请涉及触控技术领域，特别涉及一种数据处理方法及装置、电子设备、存储介质。

背景技术

触控系统中，常需要对不同类型的触控面板设计针对性的坐标计算、边缘数据处理等方案，以实现在不同形状的触控面板下的精确报点、光滑边缘等效果。

对于圆形触控面板而言，通常包含n行n列的触控传感器(n为正整数)，如图1所示为包含8行8列触控传感器的圆形触控面板。沿着圆形边界处的触控传感器会被删减，即面积变小。如图2所示，边缘触控位置的触控电容数据经数据预处理后，由于触控电容数据很难保持均匀，边缘划线轨迹呈锯齿、弯曲等情况。

发明内容

本申请实施例提供了一种数据处理方法，实现对于边缘触控位置的坐标校正，从而达到对于边缘触控位置的触控轨迹的平滑效果。

本申请提供了一种数据处理方法，所述方法包括：

获取触控面板上的触控点坐标；

判断所述触控点坐标是否处于预设的触控范围内；

如果所述触控点坐标不处于预设的触控范围内，连接所述触控面板的中心点坐标与所述触控点坐标，得到连接线；

将所述触控点坐标更新为所述连接线与所述触控范围的轮廓线的交点坐标。

在一实施例中，所述获取触控面板上的触控点坐标，包括：

采集所述触控面板上的触控电容数据；

对所述触控电容数据进行预处理，获得所述触控点坐标。

在一实施例中，所述方法还包括：

针对触控轨迹上的每一个触控点坐标，均进行边缘判断和坐标更新处理，得到边缘平滑触控轨迹。

在一实施例中，所述触控面板为半径为R的圆形面板，所述预设的触控范围为半径为r的圆形，其中R0，r0且rR；所述判断触控点坐标是否处于预设的触控范围内，包括：

计算所述触控面板的中心点坐标；

计算所述触控点坐标与所述中心点坐标之间的欧式距离；

若所述欧式距离大于r，指示所述触控点坐标不处于预设的触控范围内；反之，指示所述触控点坐标处于预设的触控范围内。

在一实施例中，所述计算所述触控面板的中心点坐标，包括：

根据所述触控面板的横坐标最大值和纵坐标最大值，计算所述触控面板的中心点坐标。

在一实施例中，所述将所述触控点坐标更新为所述连接线与所述触控范围的轮廓线的交点坐标之前，所述方法还包括：

计算所述连接线与所述触控范围的轮廓线的交点坐标。

在一实施例中，所述计算所述连接线与所述触控范围的轮廓线的交点坐标，包括：

计算所述连接线相对于坐标轴的偏转角度；

将所述欧式距离减去r，所得结果记为ΔD；

根据所述偏转角度，计算ΔD在坐标轴上的映射距离；

根据所述映射距离和所述触控点坐标，计算所述交点坐标。