[发明专利]反光物体的三维测量方法、装置及终端设备

权利要求书

1.一种反光物体的三维测量方法，其特征在于，包括：

获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；

根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标；

根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数，包括：

获取N个第四拍摄图像，所述N个第四拍摄图像是将N幅不同亮度的均值图像轮流投影至所述表面后拍摄所得；

根据各幅所述均值图像的亮度以及各幅所述均值图像对应的所述第四拍摄图像的亮度进行M次项的函数拟合，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；其中，N≥M+1，其中，M等于7，亮度调节函数式为：I_p(u^p,v^p)＝a₀(I_c(u^c,v^c))⁷+a₁(I_c(u^c,v^c))⁶+a₂(I_c(u^c,v^c))⁵+a₃(I_c(u^c,v^c))⁴+a₄(I_c(u^c,v^c))³+a₅(I_c(u^c,v^c))²+a₆I_c(u^c,v^c)+a₇；

其中，a₀,a₁,a₂,a₃,a₄,a₅,a₆,a₇为亮度调节函数式的系数，通过最小二乘法对各幅均值图像的亮度以及各幅均值图像对应的第四拍摄图像的亮度进行7次项的函数拟合计算得到上述系数；

获取第二拍摄图像满足预设清晰条件时所述反光区域对应的预期亮度值；根据所述亮度调节函数确定所述预期亮度值对应的投影亮度；将原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度调整为所述投影亮度，得到所述预设的测量图像，获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得，所述预设清晰条件为所述第二拍摄图像为不饱和图像，当第二拍摄图像的亮度值等于254时，第二拍摄图像的清晰度最佳，则根据亮度调节函数确定当第二拍摄图像的亮度为满足预设清晰条件时反光区域对应的预期亮度值，根据所述亮度调节函数确定所述预期亮度值对应的投影亮度，投影坐标所需的投影亮度由下述公式计算得到：I_best＝254⁷a₀+254⁶a₁+254⁵a₂+254⁴a₃+254³a₄+254²a₅+254a₆+a₇；

对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像。

2.如权利要求1所述的反光物体的三维测量方法，其特征在于，在根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标之前，还包括：

获取第三拍摄图像，所述第三拍摄图像是将预设的条纹图像投影至所述待测量物体的表面后拍摄所得；所述条纹图像包含若干条横竖两向的相移条纹；

对所述第三拍摄图像中所述相移条纹的相移进行计算，得到横竖两向的绝对相位；

根据所述横竖两向的绝对相位得到投影坐标与拍摄坐标之间的映射关系。