[发明专利]一种基于比色的紫外双波长辐射测温方法在审
| 申请号： | 202010799098.7 | 申请日： | 2020-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN111928951A | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 张金涛;董伟;卢小丰 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京华仁联合知识产权代理有限公司 11588 | 代理人： | 陈建 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 比色 紫外 波长 辐射 测温 方法 | ||
1.一种基于比色的紫外双波长辐射测温方法，其特征在于：
对具有高温表面的待测温物体进行测量；提供第一紫外波长探测器和第二紫外波长探测器，所述第一紫外波长探测器和第二紫外波长探测器分别对所述高温表面的辐射信号进行探测；
在第一组信号采集阶段，所述第一紫外光探测器采集第一紫外光信号，所述第二紫外光探测器采集第二紫外光信号；
在第二组信号采集阶段，所述第一紫外光探测器采集第三紫外光信号，所述第二紫外光探测器采集第四紫外光信号；
第一组中的第一紫外光信号和第二紫外光信号同比例地向紫外波段压缩以获得第二组的第三紫外光信号和第四紫外光信号；
所述第一紫外光信号和第二紫外光信号之间波长差以及所述第三紫外光信号和第四紫外光信号之间波长差小于60nm。
2.如权利要求1所述的基于比色的紫外双波长辐射测温方法，其特征在于：所述第一紫外光信号和第二紫外光信号之间具有60nm的波长差。
3.如权利要求1所述的基于比色的紫外双波长辐射测温方法，其特征在于：所述第三紫外光信号和第四紫外光信号之间波长差为50nm。
4.如权利要求1所述的基于比色的紫外双波长辐射测温方法，其特征在于：所述第一紫外光探测器和所述第二紫外光探测器分别连接到数据分析处理模块。
5.如权利要求4所述的基于比色的紫外双波长辐射测温方法，其特征在于：所述数据分析处理模块对所述第一紫外光探测器获得的第一紫外光信号、第三紫外光信号和所述第二紫外光探测器获得的第二紫外光信号、第四紫外光信号进行处处理和分析，所述第一紫外光信号和第二紫外光信号位于200nm-400nm之间。
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