[发明专利]一种电阻测试方法

权利要求书

1.一种电阻测试方法，其特征在于：基于测试系统，测试系统包括控制模块（KZMK）和检测模块（JCMK）；

检测模块（JCMK）包括第一电阻（R1）、第二电阻（R2）和测试电源；

检测模块（JCMK）用于检测待测电阻（RV1）的阻值是否在允许误差的范围内；

待测电阻（RV1）的第二端与第一电阻（R1）的第一端相连，第一电阻（R1）的第二端与第二电阻（R2）的第一端相连，第一采样点（C1）与待测电阻（RV1）的第二端相连，第二采样点（C2）与第一电阻（R1）的第二端相连，第一电源点（V1）与待测电阻（RV1）的第一端相连，第二电源点（V2）与第二电阻（R2）的第二端相连；

检测模块（JCMK）与控制模块（KZMK）电性连接；

控制模块（KZMK）具有数学计算电路；

控制模块（KZMK）具有如下测试流程：

步骤a1、将测试电源的正极与一电源点（V1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的负极相连；

步骤a2、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量H1；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量D1；

步骤a3、将测试电源的负极与一电源点（V1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的正极相连；

步骤a4、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量D2；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量H2；

步骤a5、调用控制模块（KZMK）数学计算电路，进行如下数学公式的运算：

Y=|H2-H1|+|D2-D1|；

步骤a6、调用控制模块（KZMK）判断Y的值是否小于允许的误差阈值，若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）合格，若Y的值不小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）不合格。

2.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：替换步骤a6，步骤a6、调用控制模块（KZMK）判断Y的值，若Y的值小于等于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）合格，若Y的值大于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）不合格。

3.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：待测电阻（RV1）为电位器，对电位器进行持续测试，并调节电位器的阻值直至调整至所需范围内。

4.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：待测电阻（RV1）为厚膜电阻。

5.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：测试系统还包括测试按键（CS2），测试按键（CS2）与控制模块（KZMK）电性相接，控制模块（KZMK）能够判断自检按键（CS1）的按键状态，按下测试按键（CS2）测试流程启动。

6.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：测试系统还包括提示模块（TSMK），提示模块（TSMK）与控制模块（KZMK）电性相接，提示模块（TSMK）具有显示装置，提示模块（TSMK）能够显示Y的值是否在误差范围内。

7.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：测试系统还包括提示模块（TSMK），提示模块（TSMK）与控制模块（KZMK）电性相接，提示模块（TSMK）具有显示装置，提示模块（TSMK）能够显示Y的值。

8.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：控制模块（KZMK）包含单片机，单片机的型号为PIC16F877。

9.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：测试电源由单片机的IO引脚提供。

10.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：AD采样由单片机的IO引脚提供。