[发明专利]一种分支流水线结构的ECC译码系统及方法有效

专利信息
申请号: 202010803124.9 申请日: 2020-08-11
公开(公告)号: CN112099986B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 潘伟涛;肖洪;邱智亮;张仲禹 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G11C29/42
代理公司: 西安长和专利代理有限公司 61227 代理人: 何畏
地址: 710071 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 分支 流水线 结构 ecc 译码 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种分支流水线结构的ECC译码方法,其特征在于,所述分支流水线结构的ECC译码方法包括:

缓存输入的纯数据,每个RAM对应一个扇区的数据,多个扇区轮询写入;

由输入的预译码数据,计算出相应伴随式,根据伴随式判断输入数据是否出错;

当数据出错时,由伴随式求解错误位置多项式,并检测到误码数;

根据求解的错误位置多项式,确定错误位置,将逐个16位宽的错误图样移出;根据错误图样,进行数据纠错输出;

当伴随式求解模块判断出数据无错时,跳过BCH译码器的后续模块,直接进行数据输出;

所述分支流水线结构的ECC译码方法根据BCH码决定一组编译码数据单元,一个扇区的数据译码过程如下:

数据输入时分为两路,一路丢弃校验位,将纯数据存入轮询到的一个RAM中;另一路输入数据与校验位一起进行伴随式求解,根据伴随式判断数据是否出错;

当数据无错时,从同一RAM中读取正确数据,直接输出;

当数据出错时,通过iBM算法和chien氏搜索算法进行错误定位,读取同一RAM中的数据与定位的错误进行异或,完成错误位的位翻转,并将正确数据输出。

2.如权利要求1所述的分支流水线结构的ECC译码方法,其特征在于,所述分支流水线结构的ECC译码方法对于一个扇区的数据译码,有四个阶段:伴随式求解阶段syn、错误位置多项式求解阶段iBM、错误定位阶段chien和数据输出阶段tx,根据伴随式判断数据是否出错,将产生两个不同译码分支。

3.如权利要求2所述的分支流水线结构的ECC译码方法,其特征在于,NAND FLASH读写以page为单位,对于1page的数据,要进行多次单扇区的译码操作,不同扇区数据译码形成两级分支流水线结构,第一级流水线不依赖于两个第二级流水线;所有数据都需要经过伴随式求解阶段syn,该阶段为第一级流水线syn;对于出错数据,将经历错误位置多项式求解阶段iBM、错误定位阶段chien和相应纠错输出阶段tx,三个阶段组成错误数据分支的第二级流水线ibm_chien_tx;对于无错数据,只经历数据输出阶段tx,该阶段为无错数据分支的第二级流水线tx,整个译码过程形成一个有分支的两级流水线结构,第一级流水线不依赖于两个第二级流水线。

4.如权利要求1所述的分支流水线结构的ECC译码方法,其特征在于,所述分支流水线结构的ECC译码方法对于BCH(4200,4096,8)码,第一级流水syn占用263个时钟周期,错误数据的第二级流水线ibm_chien_tx占用275个时钟周期,无错数据的第二级流水线tx占用时钟周期取决于有效数据长度,对于每个扇区4096bit满负荷时,占用258个时钟周期,对于有效数据长度不足4096bit时,只占用个时钟周期。

5.如权利要求1所述的分支流水线结构的ECC译码方法,其特征在于,所述分支流水线结构的ECC译码方法对于两级流水线占用时钟周期不等的情况,进行了流水线同步;两级流水线同时进行时,占用时钟周期短的流水线需要等待长周期的流水线完成后,再向下流动;当读取的1page数据中,所有扇区都无错时,流水线只经过第一级流水syn和第二级流水tx,达到该分支流水译码系统的性能上限;当读取的1page数据中,所有扇区都出错时,流水线则只经过第一级流水syn和第二级流水ibm_chien_tx,达到该分支流水译码系统的性能下限。

6.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如下步骤:

缓存输入的纯数据,每个RAM对应一个扇区的数据,多个扇区轮询写入;

由输入的预译码数据,计算出相应伴随式,根据伴随式判断输入数据是否出错;

当数据出错时,由伴随式求解错误位置多项式,并检测到误码数;

根据求解的错误位置多项式,确定错误位置,将逐个16位宽的错误图样移出;

根据错误图样,进行数据纠错输出;

当伴随式求解模块判断出数据无错时,跳过BCH译码器的后续模块,直接进行数据输出。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010803124.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top