[发明专利]一种电阻测试电路

说明书

本发明涉及电子测试领域，特别是涉及一种电阻测试电路，包括单片机、第一电容、第二电容、晶振、第三电阻、第四电阻、自检按键、测试按键和电源、第一电阻、第二电阻、红色LED灯、绿色LED灯、第一采样点、第二采样点、第一电源点、第二电源点、第一接入点和第二接入点。本发明具有成本低、适应广、效率高、准确度高、耗能低、精度高等有益效果。

技术领域

本发明涉及电子测试领域，特别是涉及一种电阻测试电路。

背景技术

电阻测试的目的是检验电阻阻值是否符合应用要求，电阻测试的作用是剔除不良品。

目前，现有技术对电阻阻值的测试主要依靠欧姆定律；

专利号：CN201310054770X专利名称：一种电阻测试电路

专利号：CN201210273406.8专利名称：一种电阻测试电路

以上为与本发明最接近的现有技术，它们存在以下技术缺陷：

技术缺陷1、测试步骤复杂，测试功能模块较多，各个测试功能模块的成本都很高。

技术缺陷2、测试过程对测试电源信号要求较高，测试电源信号必须无偏差，如果测试电源信号产生偏移，则会导致测试结果有较大的偏差，利用比如5V的电源进行测试，如果电源输出电压漂移到4V时会导致测试不准确，比如利用蓄电池作为测试电源时，随着电池电量的降低，测试会变得越来越不准确。

技术缺陷3、测试速度慢，测试效率较低。

技术缺陷4、测试过程对环境的温度要求较高，当环境温度发生较大变化，容易导致电源信号偏移，导致测试结果错误。

技术缺陷5、现有技术难以发现和避免测试机的老化问题，测试机的老化会导致测试结果错误。

综上所述，现有技术存在成本高、效率低、误差大、环境要求高、依赖标准源等技术问题，存在改进空间。

发明内容

1.技术方案

为解决上述问题，本发明采用如下的技术方案。

一种电阻测试电路，包括单片机(U1)、第一电容(C11)、第二电容(C21)、晶振(CRYSTAL)、第三电阻(R3)、第四电阻(R4)、自检按键(CS1)、测试按键(CS2)和电源(BAT1)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、红色LED灯(D11)、绿色LED灯(D21)、第一采样点(C1)、第二采样点(C2)、第一电源点(V1)、第二电源点(V2)、第一接入点(IN1)和第二接入点(IN2)；第一电容(C11)第一端与地点(GND)相连，第一电容(C11)第二端与单片机(U1)第13引脚相连；

第二电容(C21)第一端与地点(GND)相连，第二电容(C21)第二端与单片机(U1)第14引脚相连；

晶振(CRYSTAL)第一端与第一电容(C11)第二端相连，晶振(CRYSTAL)第二端与第二电容(C1)第二端相连；

第三电阻(R3)第一端与电源点(VCC)相连，第三电阻(R3)第二端与单片机(U1)第19引脚相连；

第四电阻(R4)第一端与电源点(VCC)相连，第四电阻(R4)第二端与单片机(U1)第20引脚相连；

电源(BAT1)的第一端与电源点(VCC)相连，电源(BAT1)的第二端与地点(GND)相连；

自检按键(CS1)的第一端与单片机(U1)的第19引脚相连,自检按键(CS1)的第二端与地点(GND)相连；

测试按键(CS2)的第一端与单片机(U1)的第20引脚相连,测试按键(CS2)的第二端与地点(GND)相连；