[发明专利]感测模块和包括该感测模块的电子装置在审
申请号: | 202010805123.8 | 申请日: | 2020-08-12 |
公开(公告)号: | CN112395937A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 李京焕;金大官;鲁尧焕 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;H04N5/225 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 屈玉华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 模块 包括 电子 装置 | ||
本申请提供感测模块和包括该感测模块的电子装置。该电子装置包括:第一基板;多个光源,所述多个光源被配置为穿过基板将光信号发射到对象;在第一基板下面的至少一个传感器,所述至少一个传感器被配置为通过接收反射光信号来检测与对象相关联的生物特征信息,该反射光信号对应于从对象反射离开并且传输穿过第一基板的光信号;以及包括至少一个支撑层、多个第一透镜和多个第二透镜的多透镜阵列,所述至少一个支撑层在所述至少一个传感器之上,所述多个第一透镜在所述至少一个支撑层的上表面上,并且所述多个第二透镜在所述至少一个支撑层的下表面上。
技术领域
本发明构思的各种示例实施方式涉及感测模块、包括该感测模块的电子装置、操作该感测模块的方法、和/或用于操作感测模块的非暂时性计算机可读介质。
背景技术
最近,电子装置提供用于感测生物特征信息的各种功能。作为感测生物特征信息的方法的示例,光学感测方法被使用。光学感测方法用于通过使用电子装置中提供的感测模块感测从用户身体的一部分反射的光来获取生物特征信息。为了提高光学感测方法中的感测精度,可能期望和/或必须增加感测模块中包括的透镜的数量。然而,当包括在感测模块中的透镜以堆叠结构布置时,感测模块的高度(例如感测模块的厚度)可以增加,使得可能难以减小电子装置的尺寸(例如电子装置的厚度)。因此,感测模块的感测区域可以减小,或者换句话说,可能需要使用具有较少数量的透镜的较小感测模块来维持电子装置的期望厚度。
发明内容
本发明构思的各种示例实施方式提供了一种可以具有减小的高度、减小的厚度和/或增大的感测区域的感测模块、一种包括该感测模块的电子装置、一种非暂时性计算机可读介质和/或用于操作该感测模块的方法。
根据本发明构思的至少一个示例实施方式,一种电子装置包括:基板;包括多个光源的显示面板,所述多个光源被配置为穿过基板将光信号发射到对象;在基板下面的至少一个传感器,所述至少一个传感器包括处理电路系统,所述处理电路系统被配置为通过接收反射光信号来检测与对象相关联的生物特征信息,反射光信号对应于从对象反射离开并且传输穿过基板的光信号;以及包括至少一个支撑层、多个第一透镜和多个第二透镜的多透镜阵列,所述至少一个支撑层在所述至少一个传感器之上,所述多个第一透镜在所述至少一个支撑层的上表面上,并且所述多个第二透镜在所述至少一个支撑层的下表面上。
根据本发明构思的至少一个示例实施方式,一种电子装置包括:显示面板,在基板之上并且包括被配置为发射光信号到对象的多个光源;至少一个光学传感器,在基板上并且被配置为感测与光信号相对应的反射光,该反射光从对象反射并穿过在显示面板中限定的检测区域;在所述至少一个光学传感器之上的透镜支撑层;多个透镜,在与基板的上表面平行的方向上在透镜支撑层的上表面和下表面中的至少一个上;以及在基板之上并且包括处理电路系统的位置控制层,该位置控制层被配置为控制所述至少一个光学传感器的位置和/或所述多个透镜中的至少一个透镜的位置。
根据本发明构思的至少一个示例实施方式,一种感测模块包括:在基板之上的至少一个传感器,所述至少一个传感器包括处理电路系统,该处理电路系统被配置为接收从与感测区域相邻的对象反射的光,并获得对象的生物特征信息;包括多个透镜和支撑层的多透镜阵列,所述多个透镜在与基板的上表面平行的方向上在所述至少一个传感器之上,并且支撑层被配置为支撑所述多个透镜;以及在基板之上的位置控制层,该位置控制层包括位置处理电路系统,该位置处理电路系统被配置为基于对象关于感测区域的位置信息来控制所述至少一个传感器的位置和/或所述多个透镜中的至少一个透镜的位置。
附图说明
通过以下结合附图进行的详细描述,本发明构思的各种示例实施方式的以上和其它方面、特征和优点将被更清楚地理解,其中:
图1是示出根据本发明构思的至少一个示例实施方式的包括感测模块的电子装置的外部的透视图;
图2是示出根据本发明构思的至少一个示例实施方式的包括感测模块的电子装置的分解透视图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010805123.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:X光分析用试料保持装置
- 下一篇:非易失性存储器及其相关写入验证方法