[发明专利]一种TCO与SiNx结合增加太阳能电池减反射膜层在审
申请号: | 202010806552.7 | 申请日: | 2020-08-12 |
公开(公告)号: | CN111933720A | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 王军;张三洋;奥赛马·托贝尔 | 申请(专利权)人: | 无锡琨圣智能装备股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/0224;H01L31/18;C23C16/34;C23C16/40;C23C16/455;C23C16/505;C23C16/52 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 214000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tco sinx 结合 增加 太阳能电池 减反射膜 | ||
1.一种TCO与SiNx结合增加太阳能电池减反射膜层,其特征在于,包括在多晶硅层表面增加透明导电膜,所述透明导电膜为铝掺杂的氧化锌薄膜,所述透明导电膜厚度控制在3-60nm范围。
2.根据权利要求1所述的一种TCO与SiNx结合增加太阳能电池减反射膜层,所述透明导电膜增加在掺磷多晶硅层和氮化硅层中间。
3.一种透明导电膜生长工艺,其特征在于,透明导电膜生长采用PECVD方式或者ALD方式,采用PECVD方式的生长过程如下,通过叠层膜机台在炉管中按比例通入DEZ/TMA/N2O气体,其比例为1:100:200-1:30:20范围,经过射频电源将气体离子化后沉积在硅片表面,控制反应压力在1000-3000mtorr,沉积时间为0.5-10min,沉积温度200-450℃,形成铝掺杂的氧化锌薄膜,膜的厚度控制3-60nm范围。
4.根据权利要求3所述的一种透明导电膜生长工艺,其特征在于,采用ALD方式生长掺杂氧化锌过程如下,通过叠层膜机台控制炉管腔体温度150-400℃内,压力500-3000mtorr,依次通入前驱体DEZ,通入时间 0.5-3s,炉管抽真空,通入N2O气体,通入时间0.5-3s,炉管抽真空,作为ZnO沉积的一个循环;依次通入前驱体TMA ,通入时间0.5-3s,炉管抽真空,通入N2O气体,通入时间0.5-3s,炉管抽真空,作为Al2O3沉积的一个循环,通过以上循环得到[ZnO] n [Al 2 O 3 ] m的掺杂AZO膜,其中n:m在100:1-100:5范围内,形成铝掺杂的氧化锌薄膜,膜的厚度控制3-60nm范围。
5.根据权利要求3、4任意一项所述的一种透明导电膜生长工艺,其特征在于,镀膜后完成后通N2吹扫炉管并抽空,再次通入SiH4、NH3混合气体,其体积比为1:0.5~3,压力控制1000~3000mtorr,温度控制350-450℃,开启射频电源使反应气体离子化并生成SiNx沉积在透明导电膜表面,沉积时间3~20min,沉积厚度10~80nm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡琨圣智能装备股份有限公司,未经无锡琨圣智能装备股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010806552.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的