[发明专利]测试固态硬盘支持D3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明涉及一种测试固态硬盘支持D3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括以下步骤：禁用待测试设备的自动电源切换功能，以使待测试设备的固态硬盘保持正常供电状态；发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态；获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态。本发明通过测试主机禁用待测试设备的自动电源切换功能，并发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态，最后获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态，整个测试过程无需接入专门的测试设备和仪表，提高测试效率，并降低测试时间。

技术领域

本发明涉及固态硬盘测试领域，更具体地说是指一种测试固态硬盘支持D3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

SSD(Solid State Disk或Solid State Drive)，俗称固态硬盘，固态硬盘是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘。固态硬盘一般作为数据存储硬件应用于电脑设备/笔记本中。

微软公司要求连接到PCIe总线的设备必须支持D3低功耗特性，旨在提升笔记本用户在使用固态硬盘过程中，提高笔记本设备的低能耗体验和快速响应能力。

现有方案采用，低功耗状态PCIe总线分析法，具体包括以下步骤：把设备连接到总线分析仪；运用专用的软件进行trace抓取和分析；获取D3状态下的行为trace。该总线分析法需要专业的仪表设备，且分析过程较慢。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的总体背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种测试固态硬盘支持D3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

第一方面，本发明提出一种测试固态硬盘支持D3特性的方法，包括以下步骤：

禁用待测试设备的自动电源切换功能，以使待测试设备的固态硬盘保持正常供电状态；

发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态；

获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态。

第二方面，本发明提出一种测试固态硬盘支持D3特性的装置，包括：

功能禁用单元，用于禁用待测试设备的自动电源切换功能，以使待测试设备的固态硬盘保持正常供电状态；

状态切换单元，用于发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态；

状态判定单元，用于获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态。

第三方面，本发明提出一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述测试固态硬盘支持D3特性的方法。

第四方面，本发明提出一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现如上所述测试固态硬盘支持D3特性的方法。

本发明与现有技术相比的有益效果是：本发明通过测试主机禁用待测试设备的自动电源切换功能，并发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态，最后获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态，整个测试过程无需接入专门的测试设备和仪表，提高测试效率，并降低测试时间。

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。