[发明专利]一种物质激光检测装置有效
申请号: | 202010808667.X | 申请日: | 2020-08-12 |
公开(公告)号: | CN111929279B | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
发明(设计)人: | 孙卫伟;徐岚 | 申请(专利权)人: | 西南大学 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N21/03 |
代理公司: | 成都时誉知识产权代理事务所(普通合伙) 51250 | 代理人: | 何悦 |
地址: | 400715*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 物质 激光 检测 装置 | ||
本发明公开了一种物质激光检测装置,涉及物质检测装置领域。本发明包括底部安装有第一动力装置的基台,所述基台的顶面设置有至少两条相互平行的物料槽,所述基台的上方通过支架安装有激光发生装置,用于发出激光,同时,所述支架上安装有分光棱镜,用于将所述激光发生装置发出的激光进行分光形成能够射入所述物料槽的分光,所述支架上还设置有激光传感器,用于接收从所述物料槽反射的激光分光,所述激光传感器至少有两个且均与PC端信号连通;以实现对待测物体本身的激光信息进行动态收集的目的。
技术领域
本发明涉及物质检测装置领域,具体的说,是一种物质激光检测装置。
背景技术
激光检测技术应用十分广泛,如激光干涉测长、激光测距、激光测振、激光测速、激光散斑测量、激光准直、激光全息、激光扫描、激光跟踪、激光光谱分析等都显示了激光测量的巨大优越性。激光外差干涉是纳米测量的重要技术。激光测量是一种非接触式测量,不影响被测物体的运动,精度高、测量范围大、检测时间短,具有很高的空间分辨率。
目前在激光检测领域,缺乏一种能够对物质本身的信息利用激光进行收集并能够准确获取待测物质激光信号变化的装置。因而,目前的激光检测大多都是运用在激光测速或者测试粒度亦或者材料平整度的领域,对于物质本身的检测应用较少。
发明内容
本发明的目的在于提供一种物质激光检测装置,以实现对待测物体本身的激光信息进行动态收集的目的。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术手段:
一种物质激光检测装置,包括底部安装有第一动力装置的基台,所述基台的顶面设置有至少两条相互平行的物料槽,所述基台的上方通过支架安装有激光发生装置,用于发出激光,同时,所述支架上安装有分光棱镜,用于将所述激光发生装置发出的激光进行分光形成能够射入所述物料槽的分光,所述支架上还设置有激光传感器,用于接收从所述物料槽反射的激光分光,所述激光传感器至少有两个且均与PC端信号连通。
进一步的,所述支架与所述基台滑动连接,所述滑动支架的运动方向与所述物料槽平行设置。
更进一步的,所述基台的侧面设置有用于安装所述支架的滑槽,所述支架包括滑动安装在所述滑槽内的支撑杆,所述支撑杆的顶端通过水平设置的安装横杆连接,所述安装横杆的底面安装有连接块,所述连接块的面安装有轴线与所述物料槽平行的基盘,所述分光棱镜安装在所述基盘上,且所述分光棱镜的分光面与所述基台垂直,所述激光发生装置安装在所述基盘上,且所述激光发生装置的出光端朝向所述分光棱镜的分光面,所述连接块设置有所述基盘的一侧安装有与所述物料槽平行的安装杆,所述安装杆上通过连接杆安装有两个所述激光传感器,所述连接杆是双头伸缩杆,所述激光传感器设置在所述分光棱镜的两侧。
更进一步的,所述基盘包括水平贯穿所述连接块的转轴,所述转轴的一端转动安装有调节圆盘,所述激光发生装置安装在所述调节圆盘上。
更进一步的,所述连接杆的收纳端与所述安装杆连接,所述激光传感器转动安装在所述连接杆的伸缩端,且所述激光传感器的转动轴线与所述连接杆的延伸方向垂直。
更进一步的,所述安装杆上设置有延伸方向与所述物料槽平行的且竖直贯穿所述安装杆的滑动通道,所述滑动通道内安装有螺纹紧固装置,所述螺纹紧固装置的底端穿过所述滑动通道且与所述连接杆的收纳端转动连接,所述螺纹紧固装置的紧固端设置在所述安装杆与所述连接杆相对的一面。
更进一步的,所述激光传感器通过球头轴与所述调节圆盘连接,所述球头轴的球头端与所述激光传感器的侧壁活动连接。
更进一步的,所述安装横杆的底面安装有第一电动轨,所述连接块的顶面安装有嵌入所述第一电动轨滑动端的第一滑块。
更进一步的,所述第一动力装置包括第二电滑轨,所述基台的底面安装有嵌入所述第二电滑轨的第二滑块。
本发明在使用的过程中,具有以下有益效果:
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