[发明专利]一种内部校准触摸屏电子分析天平

权利要求书

1.一种内部校准触摸屏电子分析天平，包括电子天平本体(1)、称量盘和设置在电子天平本体(1)上的防风罩(2)，其特征在于：所述防风罩(2)包括固定罩(21)和活动罩(22)，所述固定罩(21)固定安装在电子天平本体(1)上，所述活动罩(22)活动连接于固定罩(21)，所述固定罩(21)上连接有用于推动活动罩(22)以将称量盘显露出来的驱动组件(3)。

2.根据权利要求1所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述驱动组件(3)包括支撑架(31)、机架(32)、螺杆(33)、滑块(34)和驱动马达(35)，所述支撑架(31)固定在固定罩(21)上，所述机架(32)固定在支撑架(31)远离固定罩(21)方向的一端，所述螺杆(33)转动连接于机架(32)，所述驱动马达(35)安装在机架(32)以驱动螺杆(33)转动，所述滑块(34)滑移连接于机架(32)并螺纹套接在螺杆(33)上；所述活动罩(22)的外侧壁设置有连接块(4)，所述连接块(4)与滑块(34)相连。

3.根据权利要求2所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述连接块(4)搭设在滑块(34)的上方，所述连接块(4)朝向下方的一侧连接有安装凸起(41)，所述滑块(34)上开设有供安装凸起(41)插入的安装孔(341)。

4.根据权利要求3所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述安装凸起(41)远离连接块(4)方向的一端连接有拉簧(42)，所述拉簧(42)位于安装孔(341)内；所述拉簧(42)远离安装凸起(41)方向的一端连接有限位杆(421)，所述限位杆(421)抵接在滑块(34)远离连接块(4)方向的一侧；所述安装孔(341)的内侧壁开设有供限位杆(421)滑移的让位槽(342)。

5.根据权利要求1所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述固定罩(21)与活动罩(22)之间设置有导向组件(5)，所述导向组件(5)包括导轨(51)和导向条(52)，所述导轨(51)固定在固定罩(21)的外侧壁，并沿固定罩(21)的高度方向设置；所述导向条(52)固定在活动罩(22)的外侧壁，并沿活动罩(22)的高度方向设置；所述导轨(51)上沿其长度方向开设有供导向条(52)滑移的导向槽(511)。

6.根据权利要求5所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述导向槽(511)内在位于导轨(51)朝向下方的一侧设置有用于检测导向条(52)移动到导轨(51)的底端的检测装置(6)，所述检测装置(6)连接有控制装置(63)，所述控制装置(63)连接于驱动马达(35)。

7.根据权利要求6所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述检测装置(6)包括压力式传感器(61)和压簧(62)，所述压簧(62)设置在压力式传感器(61)上以用于导向条(52)的抵接并将压力传递给压力式传感器(61)。

8.根据权利要求1所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述固定罩(21)和活动罩(22)的外侧壁上均设置有透明防爆膜(7)。

9.根据权利要求1所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述电子天平本体(1)上开设有安装槽(11)，所述安装槽(11)内设置有与活动罩(22)的底部相抵的保护软条(8)。

10.根据权利要求1所述的一种内部校准触摸屏电子分析天平，其特征在于：所述活动罩(22)和固定罩(21)的棱角处均设置有防撞件(9)。