[发明专利]多电子束聚焦装置和控制方法在审
申请号: | 202010812526.5 | 申请日: | 2020-08-13 |
公开(公告)号: | CN111883408A | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 尹华碧 | 申请(专利权)人: | 深圳市奥谱太赫兹技术研究院 |
主分类号: | H01J37/317 | 分类号: | H01J37/317;H01J37/30;H01J37/21 |
代理公司: | 广东良马律师事务所 44395 | 代理人: | 李良 |
地址: | 518000 广东省深圳市坪*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子束 聚焦 装置 控制 方法 | ||
1.一种多电子束聚焦装置,其特征在于:包括沿电子束发射方向依次设置的电子束发射源(1)、分束器(2)、加速透镜(3)、消相差透镜(4)、物镜阵列(5)、电子束偏转器(6)和束闸(7);
所述电子束发射源(1)产生的电子束依次经分束器(2)分束、加速透镜(3)提高电子束的能量、消相差透镜(4)消除相差提高电子束质量、物镜阵列(5)对各电子束的束斑进行聚焦提高分辨率,并由电子束偏转器(6)微调电子束的位置后,由束闸(7)控制电子束的导通或者关断。
2.根据权利要求1所述的多电子束聚焦装置,其特征在于,所述电子束发射源(1)包括用于产生电子束的阴极电子源(11)和使电子束射出的栅极(12),所述阴极电子源(11)设置于栅极(12)中。
3.根据权利要求2所述的多电子束聚焦装置,其特征在于,所述阴极电子源(11)包括但不限于表面镀氧化锆的钨金属针尖。
4.根据权利要求1所述的多电子束聚焦装置,其特征在于,所述分束器(2)上设置有若干阵列设置的分束微孔,所述分束器(2)的表面涂敷有石墨层。
5.根据权利要求1或3所述的多电子束聚焦装置,其特征在于,所述电子束偏转器(6)数量与分束后的电子束一一对应,所述多电子束聚焦装置还包括用于控制电子束偏转器(6)的工作状态的第一处理器,所述第一处理器通过数据总线与电子束偏转器(6)电连接。
6.根据权利要求5所述的多电子束聚焦装置,其特征在于,所述电子束偏转器(6)包括第一偏置电极(61)、第二偏置电极(62)、第三偏置电极(63)、第四偏置电极(64)和数模转换模块,四个偏置电极分别置于四个电路层中,每个偏置电极均通过数模转换模块、数据总线与第一处理器电连接。
7.根据权利要求6所述的多电子束聚焦装置,其特征在于,四个偏置电极围绕成环形结构。
8.根据权利要求6所述的多电子束聚焦装置,其特征在于,所述束闸(7)数量与分束后的电子束一一对应,所述多电子束聚焦装置还包括用于控制束闸(7)的工作状态的第二处理器,所述第二处理器通过光电传输模块与束闸(7)电连接。
9.根据权利要求8所述的多电子束聚焦装置,其特征在于,所述束闸(7)包括第一束闸电极(71)、第二束闸电极(72)和光电传输模块,两个束闸电极分别置于两个电路层中,其中一个接地,另外一个为偏置电压,所有束闸(7)都具有相同偏置电压,所述束闸(7)通过光电传输模块与第二处理器电连接。
10.一种如权利要求1所述多电子束聚焦装置的电子束控制方法,其特征在于,包括如下步骤:
由电子束发射源产生的电子束并射出;
经分束器对电子束进行分束处理射向加速透镜;
由加速透镜提高电子束的能量使电子束加速射向消相差透镜;
由消相差透镜消除相差提高电子束质量;
利用物镜阵列对各电子束的束斑进行聚焦,减小电子束束斑半径,提高利用电子束曝光的分辨率;
由电子束偏转器微调电子束的位置后,由束闸控制电子束是否向外发射。
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