[发明专利]一种X射线发射系统及检测系统

说明书

本发明涉及一种X射线发射系统及检测系统，属于X射线检测技术领域。其中检测系统包括：舱体和第一探测器阵列，舱体内设有用于发射一束主射线和一束旁束射线的X射线源、用于限定主射线辐射的范围的准直器和用于采集旁束射线的辐射强度的旁束射线强度检测装置；主射线与旁束射线设置夹角；旁束射线强度检测装置测得的旁束射线的辐射强度作为补偿量修正经过待检测物的主射线的辐射强度。本发明对旁束射线的检测不会削弱主射线的辐射强度；减少旁束射线对环境的泄漏；并且旁束射线、主射线在不同角度上的辐射强度分布相同，旁束射线、主射线受到加速器工况波动的影响相同，因此利用旁束射线的辐射强度对主射线强度修正的更加准确。

技术领域

本发明涉及一种X射线发射系统及检测系统，属于X射线检测技术领域。

背景技术

为了防止安全事故的发生，在人员密集场所或者运输关口等地设置有安检设备。数字辐射成像系统作为一种无损检测技术，广泛应用于安检设备中，包括固定式集装箱检测系统和移动式集装箱检测系统等。

数字辐射成像系统是基于某种射线透视成像技术的检查系统，例如：X射线，X射线检测原理是当X射线穿过物质时，因被物质吸收和散射，强度会发生衰减，衰减程度与物质的性质和厚度有关，密度和厚度愈大，衰减愈大。在集装箱中没有物体的地方，透过的X射线强度就大，进而使射线胶片相应处的曝光量增多，暗室处理后呈现出较黑的影像，从而达到检验的目的。

X射线是通过射线源发射出的，然而射线源工作状态并不稳定，从震动、高压电路温度变化、到温度变化引起的微波元件尺寸变化都有可能引起射线源工作状态的变化，射线源工作状态的变化直接导致其发射的X射线的强度发生变化，并且这种变化是难以预知的。根据X射线的成像原理可知，当X射线的强度发生变化时，不仅给图像的归一化(normalization)带来了不便，并且会出现图像明暗不均匀的问题。

为了解决图像明暗不均匀的问题，现有技术有两种解决办法：

1、穿透式电离室法，其原理如图1、2所示，X射线源2包括X射线发射源7和X射线发射源屏蔽装置8，X射线发射源7发射的主射线5通过穿透式电离室3和准直器4被探测器阵列6接收，以实现成像，并且统计穿透式电离室3所检测的X射线源2出射口处的射线强度，得到每次采样时射线的整体强度变化，将该强度作为补偿值，对成像进行亮度修正。然而这种方法由于穿透式电离室3设置在X射线源2的出口处，削弱了X射线的强度(大约削弱10％)，而且这种方法穿透式电离室3所检测的强度为一个统一值，无法体现X射线不同角度的光强，一般情况下，假设X射线的中心强度为1，那么X射线的边缘强度为0.1-0.15，因此该方法不仅削弱X射线的强度，而且在图像上下边缘常常会出现修正错误的现象，强度弱、修正效果差。

2、参考探测器法，其原理如图3所示，使用参考探测器9(一般为探测器阵列6的末端探测器)采集未经过待检测物的主射线5的强度，该方法不会削弱射线强度，但是由于参考探测器9设置在探测器阵列6的边缘，其反应的辐射强度和辐射强度变化对应于主射线5的边缘部分，而主射线5的边缘部分并不是成像的主要部分(主射线5的中心部分才是成像的主要部分)，因此需要根据主射线5的中心部分和边缘部分之间的关系估计主射线5中心部分的强度，进而对图像进行修正。然而主射线5的中心部分和边缘部分之间的关系难以准确获得，只能借助于经验和统计模型，这就导致最终的修正效果较差。

发明内容

本申请的目的在于提供一种X射线检测系统，用以解决修正效果差的问题；同时还提出一种X射线发射系统。

为实现上述目的，本申请提出了一种X射线检测系统的技术方案，该X射线检测系统包括：

舱体，舱体内设有X射线源、准直器和旁束射线强度检测装置；

所述X射线源，用于发射一束主射线和一束旁束射线；所述主射线与旁束射线设置夹角；

所述准直器，设置在主射线的光路上，用于限定主射线辐射的范围；