[发明专利]一种光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法

说明书

本发明提供了一种光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法，能够对读取的存储模块的数据进行合理性判决并剔除异常数据，得到有效数据，并根据有效数据的个数和类型确定输出数据，本发明对读取的数据加入了门限判别，能够对数据进行有效甄别，剔除了读取数据过程中辐射干扰对数据造成影响形成的异常数据，得到有效数据，根据有效数据的个数和类型确定输出数据，因而，本发明提升了系统的抗辐照能力。

技术领域

本发明属于抗辐照数据通信技术领域，具体涉及一种光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法。

背景技术

随着光通信技术的发展、客户载荷系统数据交换对通信带宽越来越高的需求，越来越多的客户在航天系统中使用光收发模块产品，航天器工作在复杂的宇航辐射环境下，对光模块产品的抗辐照能力有很高的要求。

控制类芯片是高速率光模块设计中必须使用的器件，目前已有的抗辐照通用控制器如单片机或者FPGA，尽管可以实现对宇航用光模块的功能控制，但仍不能满足实际应用要求。

应用于光通信产品的控制芯片一般基于单片机平台，运用单片机的ADC、I2C通信、温度传感、内置存储等，基于单片机的软件设计平台进行功能开发，存在软件设计上的缺陷风险。单片机是基于中央处理器单元，实时速度慢、稳定性、抗电磁干扰、抗辐照能力差。采用FPGA架构的对光模块的控制，在宇航环境下使用时，有同样类似的缺陷。

另外，现有光通信产品的控制芯片一般采用传统的三模冗余判断方法，一般是指三个模块同时执行相同的操作，以多数相同的输出作为表决相同的正确输出，通常称为三取二。该类判断是对数据的直接判断，没有对数据本身的正确性进行判别，当出现辐照效应，导致三个数据同时出现偏差时，是无法进行有效输出的。

发明内容

本发明针对现有技术中存在的上述问题，提供一种光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法，解决了读取数据过程中受辐照干扰，导致三个数据同时出现偏差时，无法进行有效输出的技术问题。

为达到上述技术目的，本发明采用以下技术方案实现：

一种光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法：

在所述集成电路处于正常工作状态时，对存储模块同一存储地址存储的数据进行读取，得到n个数据；

将所述n个数据分别与其对应的门限阈值进行比较，得出在所述门限阈值范围内的有效数据；

根据所述有效数据的个数和类型，确定输出数据，其中，n为大于2的自然数。

如上所述的光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法，在所述有效数据为一个时，直接输出所述有效数据；

在所述有效数据为两个-n个时，根据所述有效数据的类型输出所述有效数据的最大值或者最小值或者平均值或者在所述有效数据包括多个相同的有效数据时输出相同的有效数据。

如上所述的光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法，根据所述存储地址输出所述有效数据的最大值或者最小值或者平均值或者多个相同的有效数据，所述存储地址对应所述类型。

如上所述的光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法，所述n=3。

如上所述的光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法，对存储模块同一存储地址存储的数据进行多次读取并取平均值后得到一个数据。

如上所述的光模块控制专用集成电路的抗辐照加固方法，所述存储模块包括：

PROM，用于存储在最恶劣辐照情况下能提供基本功能的核心关键数据；

E2PROM，用于存储能够提供全部功能的重要数据；

SRAM，用于将所述PROM和E2PROM对外输出的数据进行缓存。