[发明专利]一种硬盘故障预测方法、系统及电子设备和存储介质

说明书

本申请公开了一种硬盘故障预测方法、系统及一种电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：获取硬盘故障预测时需要进行检测的检测类型；对当前服务器中处于直连模式、Brodcom RAID卡模式和MCHP RAID卡模式下的硬盘对应的SMART日志进行收集；根据检测类型对SMART日志进行解析，判断SMART日志中是否存在满足预设故障检测规则的故障信息；若存在，则输出故障描述信息，并根据硬盘所处模式输出硬盘故障位置。本申请可以收集各种模式下硬盘的SMART日志，根据所需进行检测的检测类型识别SMART日志，以判断硬盘是否存在故障，从而降低由于硬盘故障导致的宕机率，减少数据丢失情况，同时节省了人力成本。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，更具体地说，涉及一种硬盘故障预测方法、系统及一种电子设备和一种计算机可读存储介质。

背景技术

硬盘故障一般分为两种，可预测的和不可预测的，后者发生的机率很小，也没有有效的方法去预防，例如芯片突然失效、机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可以预测的情况，这种不正常的现象可以在几天甚至几周之前就能够被发现。因此，如何对可预测类型的硬盘故障进行预先评估，以避免出现服务器宕机或硬盘数据丢失是本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本申请的目的在于提供一种硬盘故障预测方法、系统及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，降低由于硬盘故障导致的宕机率，减少数据丢失情况。

为实现上述目的，本申请提供了一种硬盘故障预测方法，包括：

获取硬盘故障预测时需要进行检测的检测类型；

对当前服务器中处于直连模式、Brodcom RAID卡模式和MCHP RAID卡模式下的硬盘对应的SMART日志进行收集；

根据所述检测类型对所述SMART日志进行解析，判断所述SMART日志中是否存在满足预设故障检测规则的故障信息；

若存在所述故障信息，则输出故障描述信息，并根据硬盘所处模式输出硬盘故障位置。

可选的，所述检测类型包括：硬盘健康状态检测、SMART参数检测、短自检日志检测和长自检日志检测中任一项或任几项的组合，其中，所述SMART参数包括重映射扇区计数、当前待映射扇区计数和重映射事件计数。

可选的，所述获取硬盘故障预测时需要进行检测的检测类型，包括：

获取预设配置文件，读取所述预设配置文件中设置的硬盘故障预测时需要进行检测的默认检测类型；

或，返回包括可选检测类型的可视化界面，通过所述可视化界面接收针对检测类型的选择指令。

可选的，所述根据所述检测类型对所述SMART日志进行解析，判断所述SMART日志中是否存在满足预设故障检测规则的故障信息，包括：

若所述检测类型包括SMART参数检测，则判断重映射扇区计数、当前待映射扇区计数和重映射事件计数是否大于对应的阈值；

若所述重映射扇区计数、所述当前待映射扇区计数和所述重映射事件计数中任一计数大于对应的阈值，则判定为存在故障信息；

若所述检测类型包括短自检日志检测和/或长自检日志检测，则检测所述短自检日志和/或所述长自检日志中是否存在与预设故障提示匹配的字符串；

若存在与预设故障提示匹配的字符串，则判定为存在故障信息。

可选的，所述判断重映射扇区计数、当前待映射扇区计数和重映射事件计数是否大于对应的阈值之后，还包括：

若所述当前待映射扇区计数大于对应的阈值，则自动调用硬盘修复工具对故障扇区进行修复；