[发明专利]一种信号采样方法、电路及设备

权利要求书

1.一种信号采样方法，其特征在于，包括：

预先配置被采样信号的信号周期T和采样信号的采样周期T_s＝T+Δt；

在根据所述信号周期触发所述被采样信号生成的同时，控制AD芯片按照所述采样周期对所述被采样信号进行采样，得到采样信号x_sn＝x(nT+nΔt)＝x(nΔt)；其中，n+1为采样次数；

根据按照时间顺序组合的采样信号[x_s1,x_s2,x_s3,...,x_sn]，得到以Δt为采样间隔的采样信号。

2.如权利要求1所述的信号采样方法，其特征在于，在根据所述信号周期触发所述被采样信号生成的同时，控制AD芯片按照所述采样周期对所述被采样信号进行采样的过程，包括：

根据所述信号周期生成信号触发脉冲，并根据所述采样周期生成采样触发脉冲；

将所述信号触发脉冲发送至信号发送模块，同时将所述采样触发脉冲发送至AD芯片，以使所述信号发送模块触发所述信号周期下的被采样信号生成，及使所述AD芯片按照所述采样周期对所述被采样信号进行采样。

3.如权利要求2所述的信号采样方法，其特征在于，根据所述信号周期生成信号触发脉冲，并根据所述采样周期生成采样触发脉冲的过程，包括：

预先根据所述信号周期和所述采样周期配置用于产生脉冲信号的PLL；

基于外部晶振提供的基准时钟，利用所述PLL生成一路发送至所述信号发送模块的信号触发脉冲和一路发送至所述AD芯片的采样触发脉冲。

4.如权利要求1所述的信号采样方法，其特征在于，所述信号采样方法还包括：

通过对所述AD芯片中用于表示一次性采样次数的寄存器进行配置，来设置所述AD芯片的一次性采样次数。

5.如权利要求1所述的信号采样方法，其特征在于，所述信号采样方法还包括：

将所述AD芯片采样得到的采样信号进行存储，以供后续传输或处理。

6.一种信号采样电路，其特征在于，包括：

信号接收模块，用于接收被采样信号；

与所述信号接收模块的输出端连接的AD芯片；

分别与信号发送模块和所述AD芯片连接的控制器，用于预先配置所述被采样信号的信号周期T和采样信号的采样周期T_s＝T+Δt；在根据所述信号周期控制所述信号发送模块触发所述被采样信号生成的同时，控制AD芯片按照所述采样周期对所述被采样信号进行采样，得到采样信号x_sn＝x(nT+nΔt)＝x(nΔt)；根据按照时间顺序组合的采样信号[x_s1,x_s2,x_s3,...,x_sn]，得到以Δt为采样间隔的采样信号；其中，n+1为采样次数。

7.如权利要求6所述的信号采样电路，其特征在于，所述控制器包括：

分别与所述信号发送模块和所述AD芯片连接、预先根据所述信号周期和所述采样周期配置好的PLL，用于基于外部晶振提供的基准时钟，生成一路发送至所述信号发送模块的信号触发脉冲和一路发送至所述AD芯片的采样触发脉冲，以使所述信号发送模块触发所述信号周期下的被采样信号生成，及使所述AD芯片按照所述采样周期对所述被采样信号进行采样；

与所述AD芯片连接的AD配置模块，用于通过对所述AD芯片中用于表示一次性采样次数的寄存器进行配置，来设置所述AD芯片的一次性采样次数；

与所述AD芯片连接的RAM，用于将所述AD芯片采样得到的采样信号进行存储，以供后续传输或处理。