[发明专利]物体缺陷检测方法、系统、装置、设备和存储介质

权利要求书

1.一种物体缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，所述荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，所述第一类物体和所述第二类物体按图像采集方向间隔叠放，所述第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与所述第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同；

根据当前待检测物体的类别，确定所述当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；

基于所述荧光图像和所述标准荧光剂涂敷区域，对所述当前待检测物体进行缺陷检测，得到所述当前待检测物体的缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一类物体的图像采集面涂敷有荧光剂，所述第二类物体的图像采集面未涂敷荧光剂，所述待检测物体的图像采集面为朝向所述图像采集方向的一面。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当前待检测物体为第一类物体；

所述基于所述荧光图像和所述标准荧光剂涂敷区域，对所述当前待检测物体进行缺陷检测，得到所述当前待检测物体的缺陷检测结果包括：

对所述荧光图像进行荧光显示区域识别，确定荧光显示区域；

将所述荧光显示区域与所述第一类物体的标准荧光剂涂敷区域进行比较；

若比较结果为所述荧光显示区域与所述标准荧光剂涂敷区域不相同，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；

若比较结果为所述荧光显示区域与所述标准荧光剂涂敷区域相同，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当前待检测物体为第二类物体；

所述基于所述荧光图像和所述标准荧光剂涂敷区域，对所述当前待检测物体进行缺陷检测，得到所述当前待检测物体的缺陷检测结果包括：

对所述荧光图像进行荧光显示区域识别；

若识别结果为存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；

若识别结果为不存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待检测物体的朝向图像采集方向的一面均涂敷有荧光剂，且相邻所述待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不重叠。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述荧光图像和所述标准荧光剂涂敷区域，对所述当前待检测物体进行缺陷检测，得到所述当前待检测物体的缺陷检测结果包括：

对所述荧光图像进行荧光显示区域识别；

若所述荧光显示区域与所述当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不相同、或所述荧光显示区域与相邻物体的标准荧光剂涂敷区域存在重叠，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。

7.一种物体缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括图像采集设备(110)、滤光片(120)、荧光激发光源(130)、待检测物体(140)以及处理器(150)；

所述滤光片(120)设置于所述图像采集设备(110)的图像采集方向，所述图像采集设备(110)经过所述滤光片(120)的图像采集范围不小于当前待检测物体朝向所述图像采集设备(110)的图像采集面的面积，所述待检测物体(140)朝向所述图像采集设备(110)叠放，且相邻待检测物体(140)的图像采集面中的标准荧光剂涂敷区域不同；

所述荧光激发光源(130)投射至所述待检测物体(140)，所述图像采集设备(110)通过所述滤光片(120)采集所述当前待检测物体的荧光图像，并将所述荧光图像发送至所述处理器，所述处理器执行权利要求1-6中任一项所述的物体缺陷检测方法。

8.根据权利要求7所述的物体缺陷检测系统，其特征在于，所述荧光激发光源为环状光源，所述环状光源设置于所述滤光片和所述待检测物体之间。