[发明专利]一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法有效

专利信息
申请号: 202010825528.8 申请日: 2020-08-17
公开(公告)号: CN111953968B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 叶松;张紫杨;朱保华;李树;张文涛;王方原;汪杰君;王新强;陈妮艳 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 541004 广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 空间 调制 偏振 成像 检测 像面长 宽和 像元长宽 方法
【权利要求书】:

1.一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法,其特征在于,该方法的具体过程包括如下步骤:

A1,对中心波长为λ1的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;

A2,对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置的坐标;

A3,通过确定偏振信息在被调制后在频域中的位置参数计算出像元的平均长度;

A4,分别计算出像元在行和列方向上的长度D1和D2;

A5,通过D1和D2计算出成像相机整体在行和列上的长度,同时还能计算出像元的长宽比值,检测像元是否正确。

2.根据权利要求1所述的一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法,其特征是:入射光经过空间调制偏振成像后得到干涉图像,经过变换后在频域中,目标的偏振信息会被调制到不同的位置,此过程与相机的像元尺寸有关,以此检测像元尺寸。

3.根据权利要求1所述的一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法,其特征是:在频域中的位置会因为像元的长宽的不同发生变化,凭借此特点可以用来计算像元的长宽比,判断相机像元尺寸是否标准。

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