[发明专利]激光光线检测方法、装置和系统

说明书

本发明涉及一种激光光线检测方法、装置和系统。该激光光线检测方法通过接收图像采集器提供的标的物图像，其中标的物图像包括激光光线形成在标的物上的光斑图像；根据光斑图像,获取光斑图像尺寸和各异常区域图像尺寸；根据光斑图像尺寸和各异常区域图像尺寸计算异常区域尺寸占比以获取光通率检测结果，从而实现快速且精确得到激光光线的检测结果，省时省力。

技术领域

本发明涉及激光光线检测领域，特别是涉及一种激光光线检测方法、装置、和系统。

背景技术

激光为原子受激发而辐射出来的光，相比普通光源其单色性和方向性更好，亮度更高，广泛应用于工业、医疗、商业、科研、信息和军事等领域。通常，激光可由激光二极管或激光器发出，并通过与激光二极管或激光器耦合的透镜来提高激光光线的聚拢性，以满足应用场景需求。

然而，穿过透镜的激光光线会存在因透镜缺陷所造成的光线缺陷的问题，针对该问题，通常是靠人工肉眼来检测是否存在异常光点，检测结果不准确，效率低，且耗时长。

发明内容

基于此，有必要提供一种能够高效且准确判断激光光线是否存在缺陷的激光光线检测方法，以解决传统人工肉眼检测方法导致的检测结果不准确的问题。

一种激光光线检测方法，所述检测方法包括：

接收图像采集器提供的标的物图像，所述标的物图像包括激光光线形成在标的物上的光斑图像；

根据所述光斑图像,获取光斑图像尺寸和各异常区域图像尺寸，所述异常区域图像尺寸为在所述光斑图像上颜色异常区域的像素尺寸；

根据所述光斑图像尺寸和各所述异常区域图像尺寸计算异常区域尺寸占比，所述异常区域尺寸占比为各异常区域图像的总尺寸占光斑图像尺寸的比例；

根据所述异常区域尺寸占比获取光通率检测结果，所述光通率检测结果包括光通率正常和光通率异常。

在一个实施例中，在获取光斑图像尺寸和各异常区域图像尺寸之前，所述方法还包括：

将所述光斑图像的颜色空间由RGB模式转换至HSV模式，并对所述光斑图像进行通道分割以得到多幅单通道图像；

将至少一幅所述单通道图像进行直方图均衡化处理；

将各所述单通道图像进行通道合并以还原得到所述光斑图像。

在一个实施例中，所述获取光斑图像尺寸和各异常区域图像尺寸，包括：

构建所述光斑图像的第一最小外接矩形；

获取所述第一最小外接矩形的顶点参量以计算所述光斑图像尺寸；

构建各所述异常区域图像的第二最小外接矩形；

获取各所述第二最小外接矩形的顶点参量以计算各所述异常区域图像尺寸。

在一个实施例中，在构建各所述异常区域图像的第二最小外接矩形之前，所述方法还包括：

提取所述光斑图像上的各异常区域图像；

对各所述异常区域图像进行开操作和/或闭操作处理。

在一个实施例中,所述根据所述光斑图像尺寸和各所述异常区域图像尺寸计算异常区域尺寸占比，包括：

将各所述异常区域图像尺寸进行求和得到各所述异常区域图像的总尺寸；

根据各所述异常区域图像的总尺寸与所述光斑图像尺寸的比值得到所述异常区域尺寸占比。

在一个实施例中，在获取光斑图像尺寸之后，所述检测方法还包括：

根据所述光斑图像尺寸和预设像素尺寸比计算光斑尺寸；