[发明专利]一种电子元件品质检测用辅助筛分装置

权利要求书

1.一种电子元件品质检测用辅助筛分装置，包括支撑座(1)、电机(6)、第一转辊(7)、传送带(8)、推块(12)和检测探头(15)，所述支撑座(1)前端设置有控制面板(2)，所述控制面板(2)前端安装有按钮(3)，所述支撑座(1)与支撑架(4)底部固定连接，所述支撑座(1)后端固定有电源导线(5)；

其特征在于：还包括阻流缓冲机构(14)，所述阻流缓冲机构(14)与排放管(13)中部固定连接，所述阻流缓冲机构(14)包括固定框(141)、竖板(142)、推动机构(143)和阻挡机构(144)，所述固定框(141)与排放管(13)中部固定连接，所述固定框(141)与竖板(142)底部焊接固定，所述竖板(142)前端安装固定有推动机构(143)，所述推动机构(143)与阻挡机构(144)左下端固定连接。

2.根据权利要求1所述一种电子元件品质检测用辅助筛分装置，其特征在于：所述支撑座(1)通过螺钉与电机(6)前端锁紧固定，所述电机(6)输出端与第一转辊(7)转动连接，所述第一转辊(7)通过传送带(8)与第二转辊(9)传动连接，所述支撑架(4)后端与固定架(10)螺钉连接，所述固定架(10)通过螺钉与第一气缸(11)前端锁紧固定，所述第一气缸(11)输出端固定有推块(12)，所述支撑架(4)通过螺钉与排放管(13)后上端锁紧固定，所述固定架(10)与检测探头(15)上端固定连接，所述电机(6)与控制面板(2)电连接。

3.根据权利要求1所述一种电子元件品质检测用辅助筛分装置，其特征在于：所述推动机构(143)包括第一转动座(1431)、第二气缸(1432)、第二转动座(1433)、第一折叠杆(1434)、第二折叠杆(1435)、转动块(1436)、推杆(1437)和导向块(1438)，所述第一转动座(1431)后端与竖板(142)焊接固定，所述第二气缸(1432)一端通过铰链轴与第一转动座(1431)内侧活动连接，并且第二气缸(1432)另一端与第二转动座(1433)底部固定连接，所述第一折叠杆(1434)活动嵌套于第二转动座(1433)顶部内侧，所述第一折叠杆(1434)和第二折叠杆(1435)均通过铰链轴与转动块(1436)内侧转动连接，所述转动块(1436)与推杆(1437)左端固定为一体，所述推杆(1437)与导向块(1438)内侧壁滑动配合。

4.根据权利要求1所述一种电子元件品质检测用辅助筛分装置，其特征在于：所述阻挡机构(144)包括固定块(1441)、扭力弹簧(1442)、斜板(1443)和承接杆(1444)，所述固定块(1441)与固定框(141)内部左上端固定连接，所述斜板(1443)活动嵌套于固定块(1441)内侧，并且固定块(1441)中部设置有扭力弹簧(1442)，所述承接杆(1444)与斜板(1443)右下端活动连接，并且承接杆(1444)右端与推杆(1437)焊接固定。

5.根据权利要求4所述一种电子元件品质检测用辅助筛分装置，其特征在于：所述阻挡机构(144)共设置有两个，并且阻挡机构(144)沿固定框(141)内部上端左右两侧相对设置。

6.根据权利要求3所述一种电子元件品质检测用辅助筛分装置，其特征在于：所述第一折叠杆(1434)和第二折叠杆(1435)结构相同，并且第一折叠杆(1434)和第二折叠杆(1435)相互对称分布。

7.根据权利要求3所述一种电子元件品质检测用辅助筛分装置，其特征在于：所述转动块(1436)共设置有两个，并且转动块(1436)沿第一折叠杆(1434)和第二折叠杆(1435)上端左右两侧相对设置。

8.根据权利要求7所述一种电子元件品质检测用辅助筛分装置，其特征在于：两个所述转动块(1436)上端均设置有推杆(1437)和导向块(1438)，并且推杆(1437)贯穿于导向块(1438)中部。