[发明专利]适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头及方法

权利要求书

1.一种适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，包括波导本体，波导本体的测试端面上设有两个由侧壁延伸成的相对波导本体轴线对称的突出部，每个凸出部包括用于与非平面天线罩接触的端点；

所述凸出部为波导本体的侧壁向外延伸且沿垂直于轴线的方向收缩到一个端点形成；所述波导本体为测试端面为矩形的矩形波导，测试端面的两条长边分别延伸出一个凸出部，且所述端点位于长边所在侧壁的中线延长线上。

2.如权利要求1所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，所述端点为尖锐端点，且突出部朝波导本体轴线方向倾斜；

所述端点为尖锐端点，且突出部朝远离波导本体轴线的方向倾斜；

所述端点为尖锐端点，且突出部的朝向与波导本体的轴线平行；

所述端点采用圆弧方式将尖锐端点局部倒角修平得到；

所述波导本体包括但不限于矩形波导、减高波导、脊波导、圆波导或椭圆波导中的一种；

或者，通过改变突出部的延伸长度和/或突出部的收窄渐变方式进行诱导效果的改变；

或者，通过改变两个突出部的端点之间的距离进行诱导效果的改变。

3.如权利要求1所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，两个凸出部结构相同，且相对波导本体的轴线对称设置。

4.如权利要求1所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，所述凸出部的底边为测试端面的长边。

5.如权利要求1所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，测试端面的短边保持原配置，两个凸出部之间的空间的两侧对自由空间开放。

6.如权利要求1所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，电磁波在矩形波导的腔体内沿波导轴线方向传播，场强沿测试端面的长边按正弦规律分布，能量沿测试端面的长边方向按升余弦规律分布，电场矢量方向平行于测试端面的短边且垂直于长边。

7.一种适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量装置，其特征在于，包括权利要求1-6任一项所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头。

8.一种适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量方法，其特征在于，利用权利要求1-6任一项所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头；

将两个凸出部的端点与待测非平面天线罩接触；

突出部诱导波导中传输的能量向端点集中，形成以端点为相位中心的前向辐射；

所述前向辐射穿透天线罩，经过内壁反射后回到探头端点，按照原路径返回波导，通过反射系数的相位变化得到天线罩的电厚度参数。

9.如权利要求8所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量方法，其特征在于，所述测量探头能够以两端点的连线为轴线进行摆动，摆动范围在±10°以内不会造成明显的测量不确定性。