[发明专利]一种纳秒双光子激光激发荧光测量系统

权利要求书

1.一种纳秒双光子激光激发荧光测量系统，其特征在于，包括激光器单元(1)、等离子体装置(2)、吸食器(3)、滤光片(6)、聚焦透镜(7)、光纤架(8)、光纤(9)、APD探测器(10)以及采集系统(11)，

所述激光器单元(1)设置等离子体装置(2)的激光窗口(4)的前端，吸食器(3)设置激光的终点，激光器单元(1)包括Nd:YAG激光器(12)、染料激光器(13)、KDP晶体(14)以及BBO晶体(15)，所述Nd:YAG激光器(12)的产生的512nm的激光作为泵浦光进入染料激光器(13)，所述染料激光器(13)产生615nm激光，615nm激光先后经过KDP晶体(14)以及BBO晶体(15)产生205nm激光；

所述等离子体装置(2)设置有激光窗口(4)以及信号观察窗(5)；

所述滤光片(6)设置在所述聚焦透镜(7)和所述信号观察窗(5)之间；

所述光纤(9)的一端固定在光纤架(8)上，光纤(9)的端面设置在聚焦透镜(7)的焦点上，光纤(9)的另一端对准APD探测器(10)；

所述APD探测器(10)的输出电压通过采集系统(11)采集。

2.根据权利要求1所述的一种纳秒双光子激光激发荧光测量系统，其特征在于：所述Nd:YAG激光器(12)产生的激光的能量为300mJ-1.5J，线宽为1cm^-1、染料激光器(13)的产生激光的能量为150-300mJ，线宽为0.04cm^-1，BBO晶体(15)合频后的205nm激光的能量为0.5-10mJ,线宽为0.07cm^-1。

3.根据权利要求1所述的一种纳秒双光子激光激发荧光测量系统，其特征在于：所述KDP晶体(14)的e光与光轴夹角θ为71.4°，入射光与晶体夹角φ为90°；所述BBO晶体(15)的θ角为71.4°，φ为90°。

4.根据权利要求1所述的一种纳秒双光子激光激发荧光测量系统，其特征在于：所述滤光片(6)为带通滤光片，透过的波段为644nm-646nm，透过率大于95％。

5.根据权利要求1所述的一种纳秒双光子激光激发荧光测量系统，其特征在于：所述激光窗口(4)的透过波长包含205nm。

6.根据权利要求1所述的一种纳秒双光子激光激发荧光测量系统，其特征在于：所述探测器(10)为APD阵列探测器，探测波段为300nm-900nm。

7.根据权利要求1所述的一种纳秒双光子激光激发荧光测量系统，其特征在于：所述吸食器(3)设置吸食器底座(17)以及吸食器边框(18)，中间设置有多面的锯齿状的三角形金属片(16)，形成百叶状结构。