[发明专利]一种分立式分光计及其实验调节方法

权利要求书

1.一种分立式分光计实验调节方法，所述一种分立式分光计包括导轨、载物平台、平行光凸透镜、成像透镜和观察屏；

载物平台一侧的导轨上设有平行光凸透镜，平行光凸透镜的前焦面上设有狭缝，平行光透镜和狭缝用于产生平行光；

载物平台另一侧的导轨上设有成像凸透镜，成像透镜后焦面处设有观察屏，观察屏中心设有一通光孔，通光孔上方和下方各刻有一个十字叉丝，其中下方的十字叉丝可透光，以便于分光计的调节；成像透镜与观察屏用于平行光会聚，成清晰像；

所述载物平台一侧的导轨位置固定，载物平台另一侧的导轨以载物平台为中心可以自由转动；

其特征在于：

开启电源，启动半导体激光器，在狭缝与载物平台之间放置平行光凸透镜，调节半导体激光器与平行光凸透镜中心到设定水平标高，使激光束穿过所述观察屏的通光孔后，垂直入射的平行光凸透镜中心，平行光凸透镜前后表面会将光束反射回通光孔周围，并在观察屏上形成两个光斑；

随后调节平行光凸透镜高低与左右位置，使两光斑在观察屏上重合，并形成干涉图案，即同心圆环，调整平行光凸透镜的角度，使同心圆环中心与通光孔重合，实现平行光凸透镜光轴与观察屏小孔中心同轴等高；

调节半导体激光器，使其照亮观察屏上可透光的十字叉丝，并在载物平台上放置平面镜，调节平面镜法线方向垂直成像透镜，并调节观察屏前后位置，使平面镜反射回观察屏上的十字叉丝像清晰；

调节载物平台水平，使十字像与十字叉丝完全重合后，再将平面镜旋转180°，再次调节载物台水平，使十字像与十字叉丝完全重合，关闭半导体激光器，完成分立式分光计实验调节操作；

开启光源，移动狭缝前后位置，并调节狭缝到合适宽度，使观察屏上干涉条纹清晰后，即可开始分光计测量实验；

开启光源，移动狭缝前后位置，使观察屏上狭缝像清晰，并调节狭缝到合适宽度；随后调节狭缝高度，使狭缝像的中心与观察屏通光孔同轴等高；即可开始分光计测量实验。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，分立式分光计所使用的光源为谱线包括589.0nm、589.6nm的钠光灯或谱线包括365.0nm、404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm的汞灯光源。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述观察屏的通光小孔设置于观察屏的中心位置，通光小孔设置为圆形结构，通光小孔直径范围为0.1mm-2mm。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述狭缝所在的屏面规格尺度应与观察屏屏面规格尺度相对应，测量时，所述狭缝结构为竖直矩形，且位于所在屏面中心位置，狭缝中心与通光小孔中心对应，狭缝宽度范围为0.1mm-1mm。