[发明专利]气体组分测量方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种气体组分测量方法，包括控制待测气体的气流分别通入红外高池和红外低池，其中，红外高池的池长大于红外低池的池长；对红外高池和红外低池中所述待测气体中特定组分粒子数进行实时采集，获得多个红外高池粒子数量和多个红外低池粒子数量；根据红外高池粒子数量和红外低池粒子数量，确定待测气体中特定组分的粒子数量。本申请中在对气体组分测量时，采用红外高池和红外低池并联测量的方式，最终结合红外高池和红外低池的的测量结果共同确定特定组分的含量，避免了因为红外高池和红外低池的选择不合理，导致测量结果不准确的问题。本申请还提供了一种气体组分测量装置、设备以及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及红外吸收技术领域，特别是涉及一种气体组分测量方法、装置、设备以及计算机可读存储介质。

背景技术

红外吸收法是一种测量气体物质中可吸收红外光线的组成分含量的方法，其具体原理是将气体中特定的元素或组分可对红外光线具有吸收能力，并且对红外光线的能量吸收多少和元素或组分的含量呈正相关。为此，红外吸收法常用作检测某一物质中特定组分的含量。

在利用红外吸收法测量某一物质中特定组分的含量时，需要将对应的气流通入到红外池中，使得气体能够充分吸收红外光线的能量，再通过红外探测器探测红外池中红外光线能量的变化，以确定特定组分的含量。另外，因为在实际测量中，需要测量的组分的含量可能比较多也可能比较少，相应地该组分在红外池中的浓度可能相对较大也可能相对较小。为了提高测量结果的准确性，当组分相对浓度较高时，可以采用红外高池测量，当组分浓度相对较低时，可以采用红外低池测量。

发明内容

本发明的目的是提供一种气体组分测量方法、装置、设备以及计算机可读存储介质，能够避免单一红外池难以准确测定气流中特定组分的含量的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种气体组分测量方法，包括：

控制待测气体的气流分别通入红外高池和红外低池，其中，所述红外高池的池长大于所述红外低池的池长；

对所述红外高池和所述红外低池中所述待测气体中特定组分粒子数进行实时采集，获得多个红外高池粒子数量和多个红外低池粒子数量；

根据所述红外高池粒子数量和所述红外低池粒子数量，确定所述待测气体中特定组分的粒子数量。

可选地，根据所述红外高池粒子数量和所述红外低池粒子数量，确定所述待测气体中特定组分的粒子数量，包括：

当所述红外高池粒子数量大于预设粒子数量时，以所述红外高池粒子数量为所述特定组分的粒子数量；

当所述红外高池粒子数量小于所述预设粒子数量时，以所述红外低池粒子数量为所述特定组分的粒子数量。

可选地，根据所述红外高池粒子数量和所述红外低池粒子数量，确定所述待测气体中特定组分的粒子数量，包括：

当所述红外高池粒子数量大于第一预设粒子数量时，以所述红外高池粒子数量为所述特定组分的粒子数量；

当所述红外低池粒子数量小于第二预设粒子数量时，以所述红外低池粒子数量为所述特定组分的粒子数量；

当所述红外高池粒子数量小于所述第一预设粒子数量，且所述红外低池粒子数量大于所述第二预设粒子数量时，则根据所述特定组分在过渡区段的粒子数量公式：N＝a·n+(1-a)·n'，获得所述粒子数量；其中，N为所述特定组分的粒子数量，a为权重系数，且0＜a＜1，n为所述红外高池粒子数量，n'为所述红外低池粒子数量；所述第一预设粒子数量大于所述第二预设粒子数量。

可选地，根据所述红外高池粒子数量和所述红外低池粒子数量，确定所述待测气体中特定组分的粒子数量，包括：