[发明专利]探测准直单元、探测装置及SPECT成像系统在审
申请号: | 202010840410.2 | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN114076972A | 公开(公告)日: | 2022-02-22 |
发明(设计)人: | 马天予;刘亚强;王学武;王忠 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01T1/164 | 分类号: | G01T1/164;G01T1/202 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探测 单元 装置 spect 成像 系统 | ||
1.一种探测准直单元,其特征在于,包括:
闪烁晶体阵列(10),用于接收被检测物体(30)内的放射源发射的伽马光子;
若干个光电器件(20),用于接收所述伽马光子并将其转换为数字信号;
所述闪烁晶体阵列(10)包括若干个闪烁晶体(101),所述若干个闪烁晶体(101)大体平行且间隔布置,每个所述闪烁晶体(101)具有端面和可接收放射源发射射线的侧面;
所述若干个光电器件(20)耦合于所述若干个闪烁晶体(101)的端面。
2.如权利要求1所述的探测准直单元,其特征在于,所述闪烁晶体阵列(10)为二维排布阵列,所述闪烁晶体阵列(10)包括若干个沿放射源发射伽马射线的入射方向排列的闪烁晶体(101),以及若干个垂直于放射源发射伽马射线的入射方向排列的闪烁晶体(101)。
3.如权利要求1或2所述的探测准直单元,其特征在于,所述闪烁晶体(101)包括至少一个独立的闪烁晶体条(1011)和/或拼接在一起的多个闪烁晶体条(1011)。
4.如权利要求3所述的探测准直单元,其特征在于,所述闪烁晶体条(1011)的至少一个端面耦合有光电器件(20)。
5.如权利要求1所述的探测准直单元,其特征在于,在所述闪烁晶体阵列(10)中,间隔设置的闪烁晶体(101)之间具有填充物,所述填充物包括树脂、聚乙烯塑料、有机玻璃和重金属中的至少一种材质。
6.一种探测装置,其特征在于,所述探测装置包括若干个如权利要求1-5任一项所述的探测准直单元。
7.如权利要求6所述的探测装置,其特征在于,若干个所述探测准直单元固定连接,形成围绕被检测物体(30)呈圆形、多边形、弧形和部分多边形中的任意一种形状分布的一探测准直单元层。
8.如权利要求7所述的探测装置,其特征在于,所述探测装置包括若干个沿放射源发射伽马射线的入射方向间隔设置的探测准直单元层,若干个探测准直单元层错位排布,以使最后一个探测准直单元层的探测准直单元上至少存在一个闪烁晶体(101),能够使从成像视野一点发射的伽马光子在入射到达最后一个探测准直单元层的该闪烁晶体(101)的传输路径上,不穿过任何光电器件(20)或电路板材料。
9.一种SPECT成像系统,其特征在于,所述SPECT成像系统包括如权利要求6-8任一项所述的探测装置(2),以及数据处理单元(301)和图像重建单元(302);
所述数据处理单元(301),用于接收所述探测装置(2)输出的数字信号并进行处理,获得每个入射伽马光子的入射信息;
所述图像重建单元(302),用于接收所述数据处理单元(301)输出的多个入射伽马光子的入射信息并进行处理,获得被检测物体(30)内放射源的分布信息,并形成数字化图像。
10.如权利要求9所述的SPECT成像系统,其特征在于,所述探测装置(2)的每个探测准直单元层可选择性地围绕所述被检测物体(30)旋转。
11.如权利要求9所述的SPECT成像系统,其特征在于,所述SPECT成像系统包括至少两个沿放射源发射伽马射线的入射方向间隔设置的探测装置(2),且沿放射源发射伽马射线的入射方向上,远离被检测物体(30)的远端探测装置用于接收被检测物体内放射源发射的穿过一个或多个近端探测装置的伽马光子并转换为数字信号。
12.如权利要求9所述的SPECT成像系统,其特征在于,根据所述SPECT成像系统所要求的空间分辨率和图像信噪比选择每个探测装置在所述SPECT成像系统中的相对位置、相邻两个探测装置(2)的间距、以及在每个探测准直单元中闪烁晶体条(1011)的数量、闪烁晶体条(1011)的尺寸、闪烁晶体条(1011)的排布方式参数。
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