[发明专利]一种传感器测量误差模型参数可行域分析方法及系统

权利要求书

1.一种传感器测量误差模型参数可行域分析方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤S1：确定首达时间下设备的真实寿命；

步骤S2：确定设备的伪寿命；

步骤S3：根据所述首达时间下设备的真实寿命和所述伪寿命确定测量误差模型参数的可行域；所述测量误差模型参数包括测量误差模型的均值和测量误差模型的标准差，具体包括：

步骤S31：确定真实寿命估计值对应的概率密度分布和伪寿命估计值对应的概率密度分布；

步骤S32：确定KL距离公式；

步骤S33：将所述真实寿命估计值对应的概率密度分布和所述伪寿命估计值对应的概率密度分布代入所述KL距离公式确定传感器测量误差模型参数的可行域。

2.根据权利要求1所述的传感器测量误差模型参数可行域分析方法，其特征在于，确定真实寿命估计值对应的概率密度分布和伪寿命估计值对应的概率密度分布，具体包括：

步骤S311：确定设备在无测量误差下的概率密度分布函数；所述设备在无测量误差下的概率密度分布函数为真实寿命估计值对应的概率密度分布；

步骤S312：确定测量误差模型与时间无关情况下伪寿命估计值对应的概率密度分布函数；

步骤S313：确定测量误差模型与时间相关情况下伪寿命估计值对应的概率密度分布函数；所述伪寿命估计值对应的概率密度分布包括所述测量误差模型与时间无关情况下伪寿命估计值对应的概率密度分布函数和所述测量误差模型与时间相关情况下伪寿命估计值对应的概率密度分布函数。

3.根据权利要求2所述的传感器测量误差模型参数可行域分析方法，其特征在于，所述将真实寿命估计值对应的概率密度分布和伪寿命估计值对应的概率密度分布代入所述KL距离公式确定传感器测量误差模型参数的可行域，具体包括：

步骤S331：将真实寿命估计值对应的概率密度分布和测量误差模型与时间无关情况下伪寿命估计值对应的概率密度分布函数代入所述KL距离公式确定测量误差模型与时间无关情况下传感器测量误差模型参数的可行域；

步骤S332：将真实寿命估计值对应的概率密度分布和测量误差模型与时间有关情况下伪寿命估计值对应的概率密度分布函数代入所述KL距离公式确定测量误差模型与时间相关情况下传感器测量误差模型参数的可行域。

4.根据权利要求3所述的传感器测量误差模型参数可行域分析方法，其特征在于，所述确定测量误差模型与时间无关情况下传感器测量误差模型参数的可行域，具体公式为：

其中，σ_ε表示测量误差模型的均值，D_max表示最大可接受寿命估计偏差，σ_B称为扩散系数，Δt表示采样间隔时间。

5.根据权利要求3所述的传感器测量误差模型参数可行域分析方法，其特征在于，所述确定测量误差模型与时间相关情况下传感器测量误差模型参数的可行域，具体公式为：

其中，σ_ε表示测量误差模型的均值，μ_ε表示测量误差模型的均值，D_max表示最大可接受寿命估计偏差，σ_B称为扩散系数，Δt表示采样间隔时间，μ表示漂移系数，ξ表示设备的失效阈值。

6.一种传感器测量误差模型参数可行域分析系统，其特征在于，所述系统包括：

真实寿命确定模块，用于确定首达时间下设备的真实寿命；

伪寿命确定模块，用于确定设备的伪寿命；

可行域确定模块，用于根据所述首达时间下设备的真实寿命和所述伪寿命确定测量误差模型参数的可行域；所述测量误差模型参数包括测量误差模型的均值和测量误差模型的标准差；

所述可行域确定模块，具体包括：

概率密度分布确定单元，用于确定真实寿命估计值对应的概率密度分布和伪寿命估计值对应的概率密度分布；

KL距离公式确定单元，用于确定KL距离公式；

可行域确定单元，用于将所述真实寿命估计值对应的概率密度分布和所述伪寿命估计值对应的概率密度分布代入所述KL距离公式确定传感器测量误差模型参数的可行域。