[发明专利]一种中子探测器快速检验装置在审

专利信息
申请号: 202010843590.X 申请日: 2020-08-20
公开(公告)号: CN112130194A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 刘国荣;梁庆雷;李井怀;鹿捷;马长江 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01T3/00
代理公司: 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人: 任晓航;屈献庄
地址: 102413 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 中子 探测器 快速 检验 装置
【权利要求书】:

1.一种中子探测器快速检验装置,用于对串联探测装置中的中子探测器(10)进行测量,所述串联探测装置由若干个所述中子探测器(10)串联组成,其特征是:包括内部设有中子源(9)的屏蔽容器(4),所述屏蔽容器(4)上还设有能够通过所述串联探测装置的穿孔(6)。

2.如权利要求1所述的中子探测器快速检验装置,其特征是:所述屏蔽容器(4)内部设有中子源放置孔(8),所述中子源(9)设置在所述中子源放置孔(8)中。

3.如权利要求2所述的中子探测器快速检验装置,其特征是:所述穿孔(6)贯穿所述屏蔽容器(4)。

4.如权利要求3所述的中子探测器快速检验装置,其特征是:所述中子源(9)靠近所述穿孔(6)。

5.如权利要求4所述的中子探测器快速检验装置,其特征是:所述中子源放置孔(8)通过密封塞(5)封堵。

6.如权利要求1所述的中子探测器快速检验装置,其特征是:所述屏蔽容器(4)的材质为聚乙烯,能够慢化所述中子源(9)发出的中子。

7.如权利要求5所述的中子探测器快速检验装置,其特征是:所述密封塞(5)的材质为聚乙烯。

8.如权利要求4所述的中子探测器快速检验装置,其特征是:所述屏蔽容器(4)为圆柱体,所述中子源放置孔(8)位于屏蔽容器(4)的轴线位置,所述穿孔(6)从所述中子源放置孔(8)的密封的底端附近穿过。

9.如权利要求1所述的中子探测器快速检验装置,其特征是:所述屏蔽容器(4)上还设有提手(7)。

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