[发明专利]固态硬盘的寿命预测方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种固态硬盘的寿命预测方法、装置及计算机可读存储介质。其中，方法包括获取预设历史时间段内待测固态硬盘每天的用户系统写入量，生成用于表示待测固态硬盘在预设历史时间段内用户系统写入量每天变化情况的差分历史时间序列；将差分历史时间序列输入至预先训练好的指数平滑模型中，得到待测固态硬盘在预设未来时间段内用户系统写入量的每天变化量预测值；根据预测日前一天的实际用户系统写入量、每天变化量预测值和待测固态硬盘的写入数据总量对待测固态硬盘的寿命进行预测，对不同时间的写入变化值所赋予权重不同，使得预测值能够准确反映近期数据写入的变化情况，从而有效提高SSD寿命的预测精准度。

技术领域

本申请涉及固态硬盘寿命检测技术领域，特别是涉及一种固态硬盘的寿命预测方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

SSD(Solid-state disk，固态硬盘)为用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元如FLASH芯片或DRAM芯片组成。由于SSD具有快速读写、质量轻、能耗低以及体积小的优势，取代传统HDD(Hard Disk Drive，机械硬盘)而被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、医疗、航空、导航设备等诸多领域。

作为HDD的高性能替代方案，基于闪存SSD自问世以来就得到广泛追捧。并且伴随着闪存技艺的改进和价格的下降，SSD迎来更广阔的市场和发展前景。但与此同时，闪存密度的增加也使得SSD可靠性降低。SSD的性能和出错率与SSD的寿命直接相关，越接近寿命尽头，SSD的性能越差，出错率越高。为了保证数据的准确性与安全性，需要对SSD在其寿命终结前进行替，也就是说，SSD是有寿命限制，SSD寿命的预测对SSD性能至关重要。

可以理解的是，SSD的寿命可以用磨损度或TBW(Total Bytes Written，写入数据总量)来表示。具体来说，SSD的P/E Cycle(Program/Erase Cycle，编程和擦写循环)次数为一个定值，数据写入会引发SSD擦写次数的增加，即产生SSD磨损，当用户写入的数据量足够大或SSD发生100％的磨损时，则认为该SSD不再可靠，寿命到达尽头。根据JEDEC标准，出厂时SSD厂商会设定额定TBW，表示在典型场景下，用户可写入SSD的数据总量。

相关技术例如Intel、HPE等SSD厂商均采用固定寿命计算公式预测SSD寿命，固定寿命计算公式可表示为：

由固定寿命计算公式可以看出，相关技术在预测SSD寿命时将过去数据一个不漏地全部加以同等利用，也即是将往期每日变化量同等看待，而在实际SSD使用中，用户未来写入量大概率上会与近期相似，所以将所有历史数据同等利用并无法准确预测得到SSD寿命。

鉴于此，如何提高SSD寿命预测精准度，是所属领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本申请提供了一种固态硬盘的寿命预测方法、装置及计算机可读存储介质，有效提高了SSD寿命的预测精准度。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

本发明实施例一方面提供了一种固态硬盘的寿命预测方法，包括：

获取预设历史时间段内待测固态硬盘每天的用户系统写入量，以生成用于表示所述待测固态硬盘的用户系统写入量在所述预设历史时间段内每天的变化情况的差分历史时间序列；

将所述差分历史时间序列输入至预先训练好的指数平滑模型中，得到所述待测固态硬盘的用户系统写入量在预设未来时间段内每天的变化量预测值；

根据预测日前一天的实际用户系统写入量、所述变化量预测值和所述待测固态硬盘的写入数据总量对所述待测固态硬盘的寿命进行预测。

可选的，所述生成用于表示所述待测固态硬盘的用户系统写入量在所述预设历史时间段内每天的变化情况的差分历史时间序列包括：