[发明专利]一种二维假人位移传感器组合校准方法有效

专利信息
申请号: 202010843701.7 申请日: 2020-08-20
公开(公告)号: CN112378325B 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 李昕;刘茹;涂远扬;叶仁根;李均胜 申请(专利权)人: 襄阳达安汽车检测中心有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02;G01M17/007
代理公司: 襄阳中天信诚知识产权事务所 42218 代理人: 杜德成
地址: 441004 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 二维 假人 位移 传感器 组合 校准 方法
【说明书】:

本发明是一种二维假人位移传感器组合校准装置及其校准方法。所述装置由架体与附件、组合待校件组成,组合待校件由传感器和旋转电位计组成,基座上有校准螺孔零点、校准螺孔A点和校准螺孔B点;组合待校件定位于基座上;左加载架和右加载架上有定位柱。所述方法操作步骤是:校前准备、组合校准和数据处理;校前准备时,对传感器和旋转电位计分别校准,得到传感器的线位移校准灵敏度和线性化指数、旋转电位计灵敏度,将传感器和旋转电位计的组合待校件设置于假人上安装状态;组合校准时,以基座上的校准螺孔零点、校准螺孔A点和校准螺孔B点为基准,进行零点、A点和B点校准。本发明具有结构简单、操作方便、校准重复性好和数据可靠性高的优点。

技术领域

本发明涉及汽车检测技术领域,特别是一种二维假人位移传感器组合校准方法。

背景技术

中国专利申请CN106546139A公开了一种碰撞假人位移传感器标定装置及其标定方法,公开了IR-TRACC传感器横向位移偏移量校准的具体步骤,执行的是线位移和角位移组合校准;中国专利申请CN109186498A公开了一种综合校准装置,执行的是传感器线位移和/或角度位移综合校准。

现有技术中,各种校准装置都是针对特定的位移量进行校准,只是针对传感器和旋转电位计分别进行校准,缺乏针对传感器和旋转电位计组合体的校准。通常,2D IR-TRACC传感器所用的旋转电位计量程为150°,如果2D IR-TRACC传感器设定在旋转电位计量程之外,其结果就会是:增大测量误差,降低校准精度。

发明内容

本发明的目的是要提供一种二维假人位移传感器组合校准方法,可靠地降低碰撞假人测试用横向位移量和轴向位移量的测量误差,有效地提高传感器与旋转电位计组合体的校准精度。

本发明的技术方案是:

设计一种二维假人位移传感器组合校准装置,由架体与附件与组合待校件组成,基座设置有由IR-TRACC传感器和旋转电位计连接组成的组合待校件,基座上设置有校准螺孔B点、校准螺孔A点和校准螺孔零点;利用定位销孔、定位螺孔和定位螺栓,IR-TRACC传感器定位于基座上,同时使组合待校件定位于基座上;左加载架和右加载架上分别设置有定位柱,用于径向加载时引导绕线。

同时设计利用所述校准装置的一种二维假人位移传感器组合校准方法,包括:步骤一,校前准备,步骤二,组合校准,步骤三,数据处理;校前准备时,首先对IR-TRACC传感器和旋转电位计分别进行校准,得到IR-TRACC传感器的线位移校准灵敏度CF、线性化指数EXP,及旋转电位计的灵敏度k,然后将IR-TRACC传感器和旋转电位计连接组成组合待校件,使其处于假人上的安装状态;组合校准时,以基座上设置的校准螺孔零点、校准螺孔A点和校准螺孔B点为基准,分别进行零点、A点和B点校准。

本发明的有益技术效果是:由于基座设置有由IR-TRACC传感器和旋转电位计连接组成的组合待校件,并且基座上设置有校准螺孔零点、校准螺孔A点和校准螺孔B点,因而可以实现组合校准。同时由于组合校准时对IR-TRACC传感器和旋转电位计分别进行校准,并使组合待校件处于假人的安装状态,因而可以模拟真实场景实现传感器精准校准。另外由于数据处理时,利用校准得到的IR-TRACC传感器的线位移灵敏度、线性化指数和截距等数据,以及旋转电位计的灵敏度和截距计算出传感器的输出值,因而可以实现各个数值与标准值的比对。本发明还具有结构简单、操作方便、校准重复性好和数据可靠性高的优点。

附图说明

图1为结构示意图。

图中,1、架体与附件,2、组合待校件,3、基座,4、左加载架,5、定位销孔,6、定位螺孔,7、定位螺栓,8、定位柱,9、砝码,10、右加载架,11、校准螺孔B点,12、校准螺孔A点,13、校准螺孔零点,14、IR-TRACC传感器,15、旋转电位计。

具体实施方式

下面根据附图提供的实施例对本发明作进一步说明。

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