[发明专利]一种用于测量二极管多温区导通电压的装置在审
申请号: | 202010844025.5 | 申请日: | 2020-08-20 |
公开(公告)号: | CN111983417A | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 陈永华;李蕾;胡锐;丁开忠;张华辉;邹春龙;李君君;冯汉升;陈根;宋云涛 | 申请(专利权)人: | 合肥中科离子医学技术装备有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 | 代理人: | 杨润;王俊晓 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 二极管 多温区导 通电 装置 | ||
1.一种用于测量二极管多温区导通电压的装置,其特征在于:包括低温恒温器(1)和二极管导通电压测试系统(2);
所述低温恒温器(1)包括绝热容器外壁(11)、冷屏(12)和GM制冷机(13),所述绝热容器外壁(11)、冷屏(12)均为中空圆柱形结构,且所述冷屏(12)纵向套设在绝热容器外壁(11)内部;
所述低温恒温器(1)顶部水平设置有圆形结构的绝热容器盖板(111),且冷屏(12)顶部水平设置有圆形结构的冷屏盖板(121),所述GM制冷机(13)纵向贯穿绝热容器盖板(111)和冷屏盖板(121),所述GM制冷机(13)包括一级冷头(131)和二级冷头(132),所述二级冷头(132)设置在GM制冷机(13)底部,且一级冷头(131)设置在二级冷头(132)上方;
所述二极管导通电压测试系统(2)包括样品通道(21)、样品测试机构(22),所述样品测试机构(22)套设在样品通道(21)中;
其中,所述样品通道(21)纵向贯穿绝热容器盖板(111)与冷屏盖板(121),所述样品通道(21)设有上方热截止环(211)和下方热截止环(212),所述样品通道(21)与样品通道盖板(210)之间密封连接;
所述样品测试机构(22)包括电流引线(221)、陶瓷绝缘子(222)、航空插座(223)、样品杆(224)、遮光板(225)、样品座(226)、二极管(227)、温度传感器(2271)和电压传感器(2272);
所述样品杆(224)的上端与样品通道盖板(210)连接,所述样品杆(224)的下端与样品座(226)连接,所述二极管(227)安装于样品座(226)上;所述样品杆(224)上间隔放置若干遮光板(225);
所述电流引线(221)、陶瓷绝缘子(222)、航空插座(223)安装于样品通道盖板(210)上。
2.根据权利要求1所述的一种用于测量二极管多温区导通电压的装置,其特征在于,所述上方热截止环(211)通过上方铜编织带(213)与一级冷头(131)连接,获得冷量,所述上方热截止环(211)设置于绝热容器盖板(111)与冷屏盖板(121)之间。
3.根据权利要求1所述的一种用于测量二极管多温区导通电压的装置,其特征在于,所述下方热截止环(212)设置于冷屏盖板(121)下侧,所述下方热截止环(212)通过下方铜编织带(214)与二级冷头(132)连接,获得冷量。
4.根据权利要求1所述的一种用于测量二极管多温区导通电压的装置,其特征在于,所述样品杆(224)由低热导率的材料制作,能够减少样品通道(21)的传导漏热;通过所述遮光板(225)减小样品通道底部的辐射漏热。
5.根据权利要求1所述的一种用于测量二极管多温区导通电压的装置,其特征在于,所述温度传感器(2271)、电压传感器(2272)的信号线与所述航空插座(223)连接,通过所述航空插座(223)采集所述二极管(227)的温度与导通电压的数据。
6.根据权利要求1所述的一种用于测量二极管多温区导通电压的装置,其特征在于,通过所述电流引线(221)、陶瓷绝缘子(222)向二极管(227)供电;所述二极管(227)的温度由温度传感器(2271)采集;所述二极管(227)的导通电压由电压传感器(2272)采集。
7.根据权利要求1所述的一种用于测量二极管多温区导通电压的装置,其特征在于,该装置的使用方法具体包括以下步骤:
步骤一:向样品通道(21)中补充一个大气压的氦气;低温恒温器(1)内部保持真空状态;
步骤二:开启GM制冷机(13);
步骤三:将采集系统与航空插座(223)连接,采集二极管(227)的温度与导通电压信号,将恒压电源连接至电流引线(221);
步骤四:待温度传感器(2271)读数稳定至测试温度;
步骤五:开启恒压电源向二极管(227)加载电压;
步骤六:关闭GM制冷机(13),二极管(227)温度逐渐上升,在此过程中,二极管(227)在不同温度下的导通电压数据被采集并记录;
步骤七:重复步骤一至步骤六,即可完成另一个二极管样品在不同温度下的导通电压测试。
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