[发明专利]一种基于RFID的定位方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种基于RFID的定位方法，应用于包含发射天线和至少一个接收天线阵列的定位装置中，所述方法包括：

发射叠加信号，其中，所述叠加信号中包含指定频段内的N个频点的探测信号，N为大于1的整数；

接收RFID标签对所述叠加信号的反射信号，确定所述反射信号在所述N个频点上的信道状态信息CSI；

根据所述信道状态信息CSI得到在指定频段中的信号强度排序前列的信道冲击响应CIR；

转换所述信号强度排序前列的信道冲击响应CIR至对应的直射径的信道状态信息CSI，所述直射径的信道状态信息CSI中包含N个频点的探测信号所对应的反射信号的到达相位；

根据所述N个频点的到达相位和空间上的点至所述定位装置的距离构建空间上的功率全息成像，将功率全息成像中各点的功率从大至小排序，将功率排序前列的点确定为RFID标签的所在位置。

2.如权利要求1所述的方法，在确定所述反射信号在所述N个频点上的信道状态信息CSI之前，所述方法还包括：

针对所述N个频点的任一频点，确定在该频点下的连续多个反射信号的相位的一致性指标，若所述一致性指标不超过预设数值，则不使用该频点下的反射信号。

3.如权利要求1所述的方法，根据所述信道状态信息CSI得到在指定频段中的信号强度排序前列的信道冲击响应CIR，包括：

将所述信道状态信息CSI转换为测量信道冲击响应CIR，根据所述信道状态信息CSI和指定频段确定信号强度排序前列的信道冲击响应CIR模板；

互相关所述测量CIR和所述信号强度排序前列的信道冲击响应CIR，并根据互相关的结果确定出信号强度排序前列的信道冲击响应CIR。

4.如权利要求3所述的方法，根据互相关的结果确定出信号强度排序前列的信道冲击响应CIR，包括：

分别确定互相关的结果中峰值的第一宽度和所述信号强度排序前列的CIR模板中峰值的第二宽度；

若所述第一宽度与第二宽度的比值超过预设值，则将所述测量CIR确定为信号强度排序前列的信道冲击响应CIR；

若所述第一宽度与第二宽度的比值不超过所述预设值，则根据所述互相关的结果和所述信号强度排序前列的CIR模板确定出待定CIR，确定所述测量CIR和所述待定CIR的差，若所述差的峰值与测量CIR的峰值的比值未超过预设比例，则将所述待定CIR确定为信号强度排序前列的信道冲击响应CIR。

5.如权利要求4所述的方法，还包括：

若所述差的峰值与测量CIR的峰值的比值超过预设比例，则将所述差确定为新的测量CIR，互相关所述新的测量CIR和所述信号强度排序前列的CIR模板，并根据互相关的结果确定出信号强度排序前列的信道冲击响应CIR。

6.如权利要求1所述的方法，所述天线阵列中包含M个接收天线，根据所述N个频点的到达相位和空间上的点至所述定位装置的距离构建空间上的功率全息成像，包括：

遍历空间中的点，针对空间上的任一点，确定该点至所述定位装置的距离；

根据所述距离和所述到达相位确定在该点上所述M个天线所分别对应的所述N个频点的功率的和，将所述功率的和确定为该点所对应的成像功率。

7.如权利要求1所述的方法，根据所述N个频点的到达相位和空间上的点至所述定位装置的距离构建空间上的功率全息成像之前，所述方法还包括：

对所述到达相位根据预设的相位校准矩阵进行相位校准，其中，所述相位校准矩阵为：其中为第m个天线对于第个各频点的到达相位校准值，M为天线阵列中接收天线的个数。

8.如权利要求1所述的方法，在将功率全息成像中各点的功率从大至小排序，将功率排序前列的点确定为RFID标签的所在位置之前，所述方法还包括：

对空间各点的功率根据预设的功率校准矩阵进行功率校准，所述预设的功率校准矩阵为：其中，p_mn为第m个天线对于第n个频点的功率校准值，M为天线阵列中接收天线的个数。