[发明专利]一种感应结太阳电池及其制备方法有效
申请号: | 202010849725.3 | 申请日: | 2020-08-21 |
公开(公告)号: | CN111952375B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 潘淼;陈文志;杨惠山;李帅;吴平辉 | 申请(专利权)人: | 泉州师范学院 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/0224;H01L31/042;H01L31/18 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 林文弘;蔡学俊 |
地址: | 362000 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 感应 太阳电池 及其 制备 方法 | ||
1.一种感应结太阳电池,其特征在于:所述太阳电池包括p型半导体衬底,所述衬底下方设有下电极,所述衬底的上方设有感应层,所述感应层的上方设有上电极,所述感应层自下而上包括过渡层、电荷增强层和抗反射层;所述电荷增强层成分为氯化铷、氯化钙、氯化钾和氯化镁一种或几种。
2.根据权利要求1所述的感应结太阳电池,其特征在于:所述p型半导体衬底为单晶硅、非晶硅、多晶硅、锗、III-VI族化合物、II-VII族化合物中的一种。
3.根据权利要求1所述的感应结太阳电池,其特征在于:上下电极为Al、Ni、Cr、Au、Ti、Pd、Ag中的一种或几种。
4.根据权利要求1所述的感应结太阳电池,其特征在于:所述过渡层为氧化硅或氮氧化硅薄膜。
5.根据权利要求1所述的感应结太阳电池,其特征在于:所述抗反射层为氮化硅薄膜。
6.一种如权利要求1-5任一项所述的感应结太阳电池的制备方法,其特征在于:包括如下步骤:
(1)先在待处理p型半导体衬底正面通过化学气相沉积、溅射、直接氧化/氮化方法生长氮氧化硅薄膜作为过渡层,然后在待处理p型半导体衬底背面通过磁控溅射、热蒸发或电子束蒸发方法生长金属作为下电极;或先在待处理p型半导体衬底背面通过磁控溅射、热蒸发或电子束蒸发方法生长金属作为下电极,再进行第一步退火处理,第一步退火处理会在衬底正面形成氧化硅薄膜,该薄膜作为过渡层;
(2)在步骤(1)的过渡层上通过旋涂工艺、磁控溅射、热蒸发或电子束蒸发工艺生长电荷增强层;所述电荷增强层成分为氯化铷、氯化钙、氯化钾和氯化镁一种或几种;
(3)在步骤(2)的电荷增强层上通过磁控溅射、热蒸发或电子束蒸发方法生长金属作为上电极;
(4)通过物理气相沉积或化学气相沉积工艺在电荷增强层未被上电极覆盖的区域生长抗反射层;
(5)经第二步退火处理得到感应结太阳电池。
7.根据权利要求6所述的感应结太阳电池的制备方法,其特征在于:所述第一步退火处理温度为400~700℃,退火处理时间10~120分钟,退火气氛为H2、NH3、保护性气体中一种或混合气体。
8.根据权利要求6所述的感应结太阳电池的制备方法,其特征在于:所述第二步退火处理温度为150~500℃,退火处理时间5~60分钟,退火气氛为H2、NH3、保护性气体中一种或混合气体。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的