[发明专利]一种MCU及MCU调试接口控制方法有效

专利信息
申请号: 202010851566.0 申请日: 2020-08-21
公开(公告)号: CN111968693B 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 王锐;张良臣;李建军;莫军;王亚波 申请(专利权)人: 广芯微电子(广州)股份有限公司
主分类号: G06F13/12 分类号: G06F13/12;G06F13/00;G11C16/10;G11C16/26
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郭浩辉;麦小婵
地址: 510000 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 mcu 调试 接口 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种MCU,其特征在于,包括非易失性存储器控制器;所述非易失性存储器控制器包括存储模块、擦除标志模块和访问控制模块;所述存储模块含有调试接口禁止关键字存储位;所述擦除标志模块含有擦除标志位;

所述访问控制模块用于:

判断所述调试接口禁止关键字存储位是否被写入;

若所述调试接口禁止关键字存储位没被写入,允许对所述存储模块发起的访问;

若所述调试接口禁止关键字存储位已被写入,判断对所述存储模块发起访问的来源;

若对所述存储模块发起访问的来源不是所述调试接口,允许对所述存储模块发起的访问;

若对所述存储模块发起访问的来源是所述调试接口,且所述擦除标志位有效,允许对所述存储模块发起的访问;所述擦除标志位有效意味着在发起访问前,对所述存储模块进行过片擦除操作。

2.如权利要求1所述的MCU,其特征在于,还包括擦除模块;所述擦除模块与擦除标志模块相连,包括对进行片擦除操作的逻辑电路,所述逻辑电路用于对所述存储模块的片擦除操作。

3.如权利要求1所述的MCU,其特征在于,所述擦除标志模块用于:生成擦除标志位的值;在所述存储模块中软件程序被片擦除后,所述擦除标志位的值设置为有效;在下载完应用程序后,所述擦除标志位的值设置为无效。

4.如权利要求1所述的MCU,其特征在于,所述存储模块用于存放应用程序。

5.如权利要求2所述的MCU,其特征在于,所述非易失性存储器控制器与所述MCU内部总线相连;所述擦除标志模块一端和擦除模块相连,另一端和所述访问控制模块一端相连;所述访问控制模块相连另一端和存储模块相连。

6.一种MCU调试接口控制方法,其特征在于,包括:

判断所述调试接口禁止关键字存储位是否被写入;

若所述调试接口禁止关键字存储位没被写入,允许对存储模块发起的访问;

若所述调试接口禁止关键字存储位已被写入,判断对所述存储模块发起访问的来源;

若对所述存储模块发起访问的来源不是调试接口,允许对所述存储模块发起的访问;

若对所述存储模块发起访问的来源是所述调试接口,且擦除标志位有效,允许对所述存储模块发起的访问;所述擦除标志位有效意味着在发起访问前,对所述存储模块进行过片擦除操作。

7.如权利要求6所述的MCU调试接口控制方法,其特征在于,所述若对所述存储模块发起访问的来源是所述调试接口,且所述擦除标志位有效,允许对所述存储模块发起的访问,具体包括:

在存储模块中软件程序被片擦除后,所述擦除标志位的值设置为有效;在下载完应用程序后,所述擦除标志位的值设置为无效;

若对所述存储模块发起访问的来源是所述调试接口,且所述擦除标志位有效,允许对所述存储模块发起的访问。

8.一种MCU调试接口控制装置,其特征在于,包括存储模块、擦除模块、擦除标志模块和访问控制模块,用于接入现有MCU中;

所述存储模块用于存放应用程序;

所述擦除模块用于对所述存储模块的片擦除操作;

所述擦除标志模块用于:在存储模块中软件程序被片擦除后,擦除标志位的值设置为有效;在下载完应用程序后,所述擦除标志位的值设置为无效;

所述访问控制模块用于:

判断所述调试接口禁止关键字存储位是否被写入;

若所述调试接口禁止关键字存储位没被写入,允许对所述存储模块发起的访问;

若所述调试接口禁止关键字存储位已被写入,判断对所述存储模块发起访问的来源;

若对所述存储模块发起访问的来源不是所述调试接口,允许对所述存储模块发起的访问;

若对所述存储模块发起访问的来源是所述调试接口,且所述擦除标志位有效,允许对所述存储模块发起的访问;所述擦除标志位有效意味着在发起访问前,对所述存储模块进行过片擦除操作。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序,其中,在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如权利要求6至7中任意一项所述MCU调试接口控制方法。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广芯微电子(广州)股份有限公司,未经广芯微电子(广州)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010851566.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top