[发明专利]增强对太阳电池局部缺陷检测能力的装置及方法

说明书

本发明提供了一种增强对太阳电池局部缺陷检测能力的装置及方法，属于晶体硅太阳电池技术领域。包括若干探针排，每个探针排包括若干相互独立的探针，其特征在于，每个探针连接有一个电阻值相同的定值电阻，所述的定值电阻的电阻为1‑50Ω，定值电阻连接电源。本发明可以使得在对太阳电池进行电致发光测试时，外部注入的电流可以均匀地分布在太阳电池表面，各区域的注入电流互不干扰。EL图对局部缺陷的分辨率接近光致发光的效果。

技术领域

本发明属于晶体硅太阳电池技术领域，涉及一种增强对太阳电池局部缺陷检测能力的装置及方法。

背景技术

光伏行业普遍采用电致发光(EL)设备检测太阳电池和光伏组件的均匀性,电致发光可用于检测太阳电池的缺陷,如载流子复合情况,内部电阻分布情况,断栅等。其原理是往晶体硅太阳电池中注入过剩载流子，即注入电流，过剩载流子直接复合会辐射出红外线，复合大的区域辐射的红外线较少，经探测器接收和成像处理后可根据发光亮度判断太阳电池的缺陷。电流注入的多少也会影响太阳电池的发光亮度，电流注入大则发光亮度大。因而电流注入的均匀性也会影响检测结果。目前采用的电致发光(EL)设备没有特别考虑电流注入的均匀性。此外，电致发光设备需要采用金属探针与太阳电池片接触，金属探针排横跨在太阳电池的主栅上，进一步使得主栅线各位置区域等势，若太阳电池内部沿主栅方向出现不均匀，则因这种等势方式使得太阳电池内部载流子均匀化，从而降低了EL测试对局部缺陷的检测分辨力。因而，往往存在太阳电池的某些缺陷在光致发光(无金属探针排)方法下可以检测出的局部缺陷却在电致发光检测中很难分辨出的情况。局部缺陷的漏检会进一步对组件制作带来问题。这是目前现有电致发光检测设备碰到的困难。

发明内容

本发明的目的是针对上述问题，提供一种增强电致发光设备对太阳电池局部缺陷检测能力的装置。

本发明的另一目的是提供一种增强电致发光设备对太阳电池局部缺陷检测能力的方法。

为达到上述目的，本发明采用了下列技术方案：

一种增强电致发光设备对太阳电池局部缺陷检测能力的装置，包括若干探针排，每个探针排包括若干相互独立的探针，其特征在于，每个探针连接有一个电阻值相同的定值电阻，所述的定值电阻的电阻为1-50Ω，定值电阻连接电源。

进一步的，每个定值电阻远离探针的一端连接金属导电条，金属导电条连接电源。

进一步的，所述的定值电阻的电阻值大于探针本身电阻值、探针与太阳电池主栅接触电阻值和单独一根探针的电进一步的，所述的定值电阻的电阻值为20Ω。

进一步地,每个探针排上相邻的两个探针之间的距离为2-15mm。

一种增强电致发光设备对太阳电池局部缺陷检测能力的方法，包括电源，所述的电源的一极连接有探针排，每个探针排包括若干相互独立的探针，每个探针连接有一个电阻值相同的定值电阻，所述的定值电阻的电阻为1-50Ω，探针远离定值电阻的一端与太阳电池具有主栅的一极上的主栅接触，电源远离探针排的一极与太阳电池的另一极接触，开始EL测试。

进一步的，每个定值电阻远离探针的一端连接金属导电条，金属导电条连接电源。

进一步的，所述的定值电阻的电阻值为20Ω。

进一步的，所述的定值电阻的电阻值大于探针本身电阻值、探针与太阳电池主栅接触电阻值和单独一根探针的电流分布区域内太阳电池的串联电阻值的总和的10倍以上。

进一步的，所述的探针排的长度与主栅的长度相配适，每个探针排上相邻的两个探针之间的距离为2-15mm。

与现有的技术相比，本发明的优点在于：

本发明可以使得在对太阳电池进行电致发光测试时，外部注入的电流可以均匀地分布在太阳电池表面，各区域的注入电流互不干扰。EL图对局部缺陷的分辨率接近光致发光的效果。