[发明专利]一种六方氮化硼薄膜生长方法及六方氮化硼薄膜在审

专利信息
申请号: 202010854162.7 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN112086343A 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 孙晓娟;隋佳恩;贾玉萍;张山丽;蒋科;石芝铭 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;C30B25/18;C30B28/14;C30B29/40
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 薄膜 生长 方法
【权利要求书】:

1.一种六方氮化硼薄膜生长方法,其特征在于,包括下述步骤:

在衬底上形成石墨烯层;

对所述石墨烯层进行刻蚀处理,形成具有图案化石墨烯衬底;

在所述图案化石墨烯衬底上外延生长六方氮化硼薄膜。

2.如权利要求1所述的六方氮化硼薄膜生长方法,其特征在于,在衬底上形成石墨烯层的步骤中,具体包括:

在衬底上生长或转移石墨烯以形成石墨烯衬底,并从所述石墨烯衬底上选出表面平坦的石墨烯区域作为石墨烯层。

3.如权利要求2所述的六方氮化硼薄膜生长方法,其特征在于,所述在衬底上生长石墨烯以形成石墨烯衬底包括采用机械剥离、热分解和化学气相沉积在衬底上生长石墨烯以形成石墨烯衬底,所述在衬底上转移石墨烯以形成石墨烯衬底包括通过CVD的方法在衬底上转移石墨烯以形成石墨烯衬底。

4.如权利要求2所述的六方氮化硼薄膜生长方法,其特征在于,所述衬底为具有六方对称性的衬底。

5.如权利要求4所述的六方氮化硼薄膜生长方法,其特征在于,所述六方对称性的衬底包含但不限于蓝宝石和碳化硅。

6.如权利要求1所述的六方氮化硼薄膜生长方法,其特征在于,对所述石墨烯层进行刻蚀处理,形成具有图案化石墨烯衬底的步骤中,具体包括:

采用光刻的方法对所述石墨烯层进行刻蚀处理,形成具有图案化石墨烯衬底,所述图案化包括但不限于六角形和圆形。

7.如权利要求1所述的六方氮化硼薄膜生长方法,其特征在于,在所述图案化石墨烯衬底上外延生长六方氮化硼薄膜的步骤中,具体包括:

采用MOCVD的方法在所述图案化石墨烯衬底上外延生长六方氮化硼薄膜。

8.如权利要求7所述的六方氮化硼薄膜生长方法,其特征在于,所述六方氮化硼薄膜的厚度为1-3um。

9.一种六方氮化硼薄膜,其特征在于,由权利要求1-8任一项所述的六方氮化硼薄膜生长方法制备而得。

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