[发明专利]一种岩土地质勘察深度的测量方法及装置

权利要求书

1.一种岩土地质勘察深度的测量的装置，其特征在于：包括底板(2)，所述底板(2)的两端均贯穿设置有调节装置(1)，所述调节装置(1)包括转动套(17)，所述转动套(17)的中部贯穿设置有第二螺杆(16)，所述第二螺杆(16)和转动套(17)螺纹连接，所述底板(2)的上端两侧且靠近调节装置(1)均固定连接有水平珠(14)；

所述第二螺杆(16)的下端固定连接有支撑底座(15)，所述支撑底座(15)可分为轮式底座(19)、橡胶垫式底座(20)和插杆式底座(21)；

所述底板(2)的上端中部拼接固定设置有背板(4)，所述背板(4)的正面一侧设置有刻度(3)，所述刻度(3)的背面设置有凹槽(22)，所述凹槽(22)的内部设置有伸缩杆(12)，所述伸缩杆(12)的一端和背板(4)转动连接。

2.根据权利要求1所述的一种岩土地质勘察深度的测量的装置，其特征在于：所述转动套(17)和底板(2)转动连接，伸缩转动套(17)的上部侧壁对称固定连接有拨柄(18)。

3.根据权利要求1所述的一种岩土地质勘察深度的测量的装置，其特征在于：所述背板(4)的侧面为“L”形，所述背板(4)的上端固定连接有第二电机(10)，所述背板(4)上且在第二电机(10)的下方设置有滑块(7)。

4.根据权利要求3所述的一种岩土地质勘察深度的测量的装置，其特征在于：所述第二电机(10)的下端延伸设置有第一螺杆(9)，且第一螺杆(9)依次贯穿背板(4)和滑块(7)，所述第一螺杆(9)和背板(4)转动连接，所述第一螺杆(9)和滑块(7)螺纹连接。

5.根据权利要求3所述的一种岩土地质勘察深度的测量的装置，其特征在于：所述滑块(7)的正面上部设置有标识箭头(8)，所述标识箭头(8)指向刻度(3)，所述滑块(7)的正面侧壁且在标识箭头(8)的下方固定连接有第一电机(6)，所述第一电机(6)的下端延伸设置有钻杆(5)。

6.根据权利要求1所述的一种岩土地质勘察深度的测量的装置，其特征在于：所述底板(2)的中部设置有通孔(11)，所述通孔(11)处于钻杆(5)的正下方。

7.根据权利要求1所述的一种岩土地质勘察深度的测量的装置，其特征在于：所述伸缩杆(12)的一端转动连接有固定块(13)，所述固定块(13)的中部贯穿转动连接有调节装置(1)。

8.根据权利要求1所述的一种岩土地质勘察深度的测量的装置，其特征在于：所述伸缩杆(12)由两个套管相互嵌套而成。

9.一种岩土地质勘察深度的测量方法，其特征在于，包括以下内容：

Sp1：将伸缩杆(12)从凹槽(22)中拉出，并根据勘探的地质和勘探的使用要求，选用合适的支撑底座(15)，然后通过拨柄(18)转动套(17)，转动套(17)在第二螺杆16的位置发生改变，进而调节了调节装置(1)对底板(2)的支撑高度，并且可以通过水平珠(14)将底板(2)调整为水平的状态；

Sp2：启动第一电机(6)，钻杆(5)转动，启动第二电机(10)，第一螺杆(9)转动，与之螺纹连接的滑块(7)向下滑动，使得钻杆(5)对地面进行钻孔

Sp3：在钻杆(5)的下端接触地面时，通过标识箭头(8)指向的刻度(3)进行一次读数，以第一次读数为基准，便可以测量钻杆(5)的钻孔深度。