[发明专利]一种微推力测量装置有效

专利信息
申请号: 202010855789.4 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN112213015B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 王小菊;王威屹;祁康成;曹贵川 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01L5/12 分类号: G01L5/12
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 谢建
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 推力 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种微推力测量装置,其特征在于,包括支架(1),所述支架(1)的上部一侧设置有固定架(3),所述固定架(3)上安装有两个左右对称的XY位移平台(2),所述固定架(3)的下方设置有力臂(9),所述力臂(9)的一端通过顶针(8)与所述支架(1)活动连接,所述力臂(9)上设置有可移动的推进器固定座(10),每个所述XY位移平台(2)与所述力臂(9)之间通过扭丝(7)连接,所述扭丝(7)、所述力臂(9)及位于所述XY位移平台(2)上的所述扭丝(7)的连接线之间形成直角梯形;所述直角梯形的直角位于所述顶针(8)所在的一侧;所述微推力测量装置中推进器推力公式为:其中,θ为旋转角度、F为推进器推力、L为力臂、L1为竖直的扭丝与倾斜扭丝上部水平距离、L2为力臂与倾斜扭丝上端固定点之间的距离、L3为倾斜扭丝与顶针的距离、G为倾斜扭丝所受的重力。

2.根据权利要求1所述的一种微推力测量装置,其特征在于,每个所述XY位移平台(2)设置有多个固定孔(6)。

3.根据权利要求1所述的一种微推力测量装置,其特征在于,每个所述XY位移平台(2)设置有安装孔(5)。

4.根据权利要求1所述的一种微推力测量装置,其特征在于,所述支架(1)的上部一侧固定有安装杆(4),所述固定架(3)固定在所述安装杆(4)上。

5.根据权利要求1所述的一种微推力测量装置,其特征在于,每根所述扭丝(7)为纯度大于99.95%的钨丝。

6.根据权利要求1所述的一种微推力测量装置,其特征在于,所述支架(1)和所述固定架(3)的材质为硬质铝合金。

7.根据权利要求1所述的一种微推力测量装置,其特征在于,所述顶针(8)的材质为硬质合金钢。

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