[发明专利]实现动态大范围和高精度定位的d-ToF测距优化存储方法在审
申请号: | 202010857471.X | 申请日: | 2020-08-24 |
公开(公告)号: | CN112100449A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 深圳市力合微电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F16/901 | 分类号: | G06F16/901;G06F16/909;G01S17/10;G01S17/894 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 王震宇 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实现 动态 范围 高精度 定位 tof 测距 优化 存储 方法 | ||
1.一种实现动态大范围和高精度定位的d-ToF测距优化存储方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1、直方图控制器基于系统动态设置的最大测距范围、测距精度,确定构造粗-细逐层细化的直方图的基本参数,并完成系统的初始化:层索引n=0;峰值索引PeakIdx=0;
S2、直方图控制器基于PeakIdx计算当前层的有效起始基础时间单元IdxStart;
S3、直方图构造单元进行当前层的配置信息,完成对应信道直方图单元的直方图构造;
S4、直方图查找单元基于构造的直方图完成峰值查找;
S5、当完成所有层构造的直方图的峰值查找后,输出最终的定位索引,否则返回步骤S2;
2.如权利要求1所述的d-ToF测距优化存储方法,其特征在于:步骤S1中,所述直方图控制器基于系统动态设置的最大测距范围,要求的测距精度,结合TDC输出的基本时间单元Δt,片上存储的最大内存确定以下基本配置信息:所述直方图构造单元构造粗-细直方图的层数,每层的时间单元宽度ΔTi,时间通道个数BNi的配置。
3.如权利要求2所述的d-ToF测距优化存储方法,其特征在于:步骤S1中,所述直方图控制器对每层配置直方图时间单元,基于实际应用的定位精度需求,动态设置最终层细直方图的时间单元精度ΔTlast,最小支持ΔTlast=Δt。
4.如权利要求2所述的d-ToF测距优化存储方法,其特征在于:步骤S2中,所述直方图控制器对每层配置合适的直方图参数,所述直方图构造单元基于配置参数构造直方图,采用逐层局部构造细的直方图,以达到不断提升定位精度的目的,且每层细直方图的构造都基于上层相对粗的直方图的查找峰值进行局部时间通道的光子统计构造。
5.如权利要求4所述的d-ToF测距优化存储方法,其特征在于:步骤S2中,所述直方图构造单元进行逐层细化构造直方图进行基于峰值的局部时间通道构造,当前细直方图的局部时间信道,覆盖上层粗直方图的n个粗时间单元通道,n大于等于3。
6.如权利要求4所述的d-ToF测距优化存储方法,其特征在于:步骤S3中,所述直方图构造单元进行逐层细化构造直方图进行基于峰值的局部时间通道的光子计数初始化,对直方图的局部时间通道进行构造时,各通道的初始光子计数,支持0初始化和非0初始化,非0初始化有效降低相对物理存储而言的大范围定位,引起的多层查找,所需的TDC输出的时延数据个数,提高距离测量的帧率。
7.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有可执行程序,其特征在于,所述可执行程序由处理器执行时,实现如权利要求1至6任一项所述的d-ToF测距优化存储方法。
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